[发明专利]一种基于检测模块的控制线校验方法、系统及介质

权利要求书

1.一种基于检测模块的控制线校验方法，所述控制线上设有第一接口，所述第一接口上设有第一引脚，其特征在于，所述检测模块上设有矩阵开关，所述矩阵开关上设有若干第二接口，所述第二接口与所述第一引脚连接，所述方法包括以下步骤：

获取检测信号，识别所述检测信号的第一物理地址；

根据所述第一物理地址对所述第一引脚进行检测，得到检测结果；

构建校验文件，根据所述校验文件和所述检测结果判断所述控制线的质量标准；

根据所述质量标准执行重复判断步骤；

所述根据所述第一物理地址对所述第一引脚进行检测的步骤进一步包括：获取所述第一引脚的若干第二物理地址；在若干所述第二物理地址中定义与所述第一物理地址对应的所述第二物理地址为第三物理地址；检测所述第三物理地址所对应第一引脚的第一电平状态；汇总所述第一电平状态，得到所述检测结果；

所述根据所述校验文件和所述检测结果判断所述控制线的质量标准的步骤进一步包括：比对所述检测结果和所述校验文件是否匹配；若匹配，则判断所述质量标准为第一标准；若非匹配，则判断所述质量标准为第二标准；

所述根据所述质量标准执行重复判断步骤的步骤进一步包括：当所述质量标准为所述第二标准时，执行所述重复判断步骤。

2.根据权利要求1中所述的基于检测模块的控制线校验方法，其特征在于：所述汇总所述第一电平状态的步骤进一步包括：标记所述第一电平状态所对应的所述第一引脚；判断所述控制线上是否存在未被标记的所述第一引脚；若是，则继续获取所述检测信号；若否，则汇总所述第一电平状态。

3.根据权利要求1中所述的基于检测模块的控制线校验方法，其特征在于：所述构建校验文件的步骤进一步包括：识别所述控制线的类型；根据所述类型获取所述第一引脚的第二电平状态并在所述第一引脚中选取冗余引脚；汇总所述第二电平状态，得到所述校验文件。

4.根据权利要求3中所述的基于检测模块的控制线校验方法，其特征在于：所述根据所述校验文件和所述检测结果判断所述控制线的质量标准的步骤进一步还包括：

按照所述第二物理地址依次比对所述第一电平状态和所述第二电平状态；判断所述第一电平状态是否均与其对应的所述第二电平状态匹配；若是，则判断所述检测结果与所述校验文件匹配；若否，则判断所述检测结果与所述校验文件非匹配，并定义与其对应的所述第二电平状态不匹配的第一电平状态为第三电平状态，定义所述第三电平状态对应的所述第一引脚为故障引脚。

5.根据权利要求4中所述的基于检测模块的控制线校验方法，其特征在于：所述重复判断步骤包括：判断所述故障引脚是否均为所述冗余引脚，若是，则判断所述质量标准为所述第一标准，若否，则判断所述质量标准为第三标准。

6.一种基于检测模块的控制线校验系统，所述控制线上设有第一接口，所述第一接口上设有第一引脚，其特征在于，所述系统包括：

信号发送模块、检测模块、校验模块和重复判断模块；所述检测模块上设有矩阵开关，所述矩阵开关与所述第一引脚连接；

所述信号发送模块用于发送检测信号；

所述检测模块用于接收所述检测信号，并识别所述检测信号的第一物理地址，所述检测模块根据所述第一物理地址对所述第一引脚进行检测，得到检测结果；

所述校验模块用于构建校验文件，并根据所述校验文件和所述检测结果判断所述控制线的质量标准；

所述重复判断模块用于根据所述质量标准执行重复判断步骤；

所述根据所述第一物理地址对所述第一引脚进行检测进一步包括：获取所述第一引脚的若干第二物理地址；在若干所述第二物理地址中定义与所述第一物理地址对应的所述第二物理地址为第三物理地址；检测所述第三物理地址所对应第一引脚的第一电平状态；汇总所述第一电平状态，得到所述检测结果；

所述根据所述校验文件和所述检测结果判断所述控制线的质量标准进一步包括：比对所述检测结果和所述校验文件是否匹配；若匹配，则判断所述质量标准为第一标准；若非匹配，则判断所述质量标准为第二标准；

所述根据所述质量标准执行重复判断步骤进一步包括：当所述质量标准为所述第二标准时，执行所述重复判断步骤。

7.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1~5中任一项所述基于检测模块的控制线校验方法的步骤。