[发明专利]一种用于校准偏振度的非偏振射线源结构有效
申请号: | 202110090368.1 | 申请日: | 2019-09-26 |
公开(公告)号: | CN112859148B | 公开(公告)日: | 2023-09-19 |
发明(设计)人: | 梁珺成;李正伟;张翼飞;张明;亢锐;杨志杰;刘皓然;勒孚河;阿不都莫明·卡地尔 | 申请(专利权)人: | 中国计量科学研究院 |
主分类号: | G01T7/00 | 分类号: | G01T7/00 |
代理公司: | 北京之于行知识产权代理有限公司 11767 | 代理人: | 何志欣 |
地址: | 100029 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 校准 偏振 射线 结构 | ||
1.一种用于校准偏振度的非偏振射线源结构,其特征在于,包括准直器(320)、换源盘(330)和彼此不同的至少两种放射源(310),
其中,每种放射源(310)均采用一种与至少两种放射源(310)中其他放射源(310)采用的放射性核素不同的放射性核素,以使得非偏振射线源(300)中包含分别发送具有不同能量的非偏振的射线的至少两种放射性核素,
所述换源盘(330)能相对于所述准直器(320)转动,所述至少两种放射源(310)彼此独立地沿换源盘(330)的周向间隔设置,所述换源盘(330)转动以将所述至少两种放射源(310)中的其中一种放射源(310)对准准直器(320)以让对准准直器(320)的放射源(310)衰变产生的射线能经准直器(320)准直后射出。
2.如权利要求1所述的非偏振射线源结构,其特征在于,在换源盘(330)转动将所述至少两种放射源(310)中的不同的放射源(310)对准准直器(320)时会从准直器(320)中射出经准直的具有不同能量的非偏振的射线。
3.如权利要求1所述的非偏振射线源结构,其特征在于,所述非偏振射线源(300)还包括驱动电机(340)和控制器(350),所述控制器(350)中预先存储有沿换源盘(330)的周向间隔设置的所述至少两种放射源(310)与所述准直器(320)之间的相对位置关系,在所述控制器(350)接收到需要将相应的放射源(310)对准所述准直器(320)的请求时,所述控制器(350)根据所述相对位置关系控制所述驱动电机(340)受控地带动所述换源盘(330)转动特定角度以使相应的放射源(310)对准所述准直器(320)。
4.如权利要求3所述的非偏振射线源结构,其特征在于,所述驱动电机(340)是伺服电机或者步进电机。
5.如权利要求1所述的非偏振射线源结构,其特征在于,放射源(310)设置于非偏振射线源(300)内,非偏振射线源(300)的外部有硬质的箱体、支座和准直器(320),其中,屏蔽箱设置于支座上,屏蔽箱上设置有准直器(320),屏蔽箱内设置有第二空间辐射探测器。
6.如权利要求1所述的非偏振射线源结构,其特征在于,在校准待校准的第一空间辐射探测器(400)之前采用标准的第二空间辐射探测器在待校准的第一空间辐射探测器(400)将要设置的固定位置处测量具有彼此不同的偏振度的偏振射线的标准偏振度,
在校准待校准的第一空间辐射探测器(400)之时将待校准的第一空间辐射探测器(400)设置到所述固定位置处测量彼此不同的入射角对应的具有彼此不同的偏振度的偏振射线的测量偏振度,基于所述标准偏振度得到所述测量偏振度的测量误差,根据所述测量误差来校准所述待校准的第一空间辐射探测器(400)的测量值。
7.如权利要求6所述的非偏振射线源结构,其特征在于,在待校准的第一空间辐射探测器(400)将要设置的固定位置处根据彼此不同的入射角形成用于校准待校准的第一空间辐射探测器(400)的具有彼此不同的偏振度的偏振射线;
采用标准的第二空间辐射探测器在待校准的第一空间辐射探测器(400)将要设置的固定位置处测量具有彼此不同的偏振度的偏振射线的标准偏振度;
将待校准的第一空间辐射探测器(400)设置到所述固定位置处测量彼此不同的入射角对应的具有彼此不同的偏振度的偏振射线的测量偏振度;
基于所述标准偏振度得到所述测量偏振度的测量误差;和
根据所述测量误差来校准所述待校准的第一空间辐射探测器(400)的测量值。
8.如权利要求6所述的非偏振射线源结构,其特征在于,非偏振射线源结构被配置为执行以下步骤:
基于第二空间辐射探测器测量偏振光源不同散射角的能量分布曲线并生成偏振度;
通过改变放射源(310)入射角度重复测量偏振度,并基于数据处理单元生成偏振度随放射源(310)入射角度变化的实测图像;
和/或基于放射源(310)在不同入射角度下的偏振度变化的理论图像和实测图像生成校准公式。
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