[发明专利]实现环形器量化调试的方法

说明书

本发明涉及一种实现环形器量化调试的方法，包括检查数据库和样本库；固定充磁位置，初设电压值；进行充磁测试；通过样本库算法，得到下次充磁电压，充磁至合理位置；进行测试，判定调试结果，判断调试结果是否通过，如果是，则结束调试；否则，继续步骤(6)；通过样本库计算下次电压值，调节电压，继续测试直至判定产品合格。采用了本发明的实现环形器量化调试的方法，解决环形器调试过程中充磁点胶等调试方法中调试量不能量化的问题，解决在自动化调试过程中由于不使用人工操作经验难以快速调试成功的问题。本发明的调试成功率高，很好地降低了调试成本，提高了生产效率。

技术领域

本发明涉及环形器调试领域，尤其涉及环形器量化领域，具体是指一种实现环形器量化调试的方法。

背景技术

环形器调试指标如下：

1、驻波比：在不匹配的情况下，馈线上同时存在入射波与反射波，在入射波于反射波相位相同的地方，电压振幅相加为大电压V max,而在相位相反的地方电压相减为小电压振幅V min，两者比值即为电压驻波比SWR。在某些情况下(如环形器或隔离器等)输入端的驻波比应尽可能的接近于1，以便提高传输线效率及减少击穿的危险。

2、插损：即为插入损耗，指微波元件或者器件(环形器或隔离器等)未接入线路前，负载吸收的功率与插入该元件或者器件后负载吸收的功率之比。常以接收信号电平对应的分贝来表示。环形器插损为负值，负的越小越好，说明插损小。

3、隔离：对一些微波元件，通常将某一段的输入功率与Psr与隔离端的输出功率Psc之比成为隔离度R,并用分贝表示。隔离度负的越大越好。

现有技术方案：

现在市场上关于隔离器的调试主要是人工调试，或者自动化粗调试，调试成功率低下，很难降低成本提高效率。

发明内容

本发明的目的是克服了上述现有技术的缺点，提供了一种满足效率高、成本低、适用范围较为广泛的实现环形器量化调试的方法。

为了实现上述目的，本发明的实现环形器量化调试的方法如下：

该实现环形器量化调试的方法，其主要特点是，所述的方法包括以下步骤：

(1)检查数据库和样本库；

(2)固定充磁位置，初设电压值；

(3)进行充磁测试；

(4)通过样本库算法，得到下次充磁电压，充磁至合理位置；

(5)进行测试，判定调试结果，判断调试结果是否通过，如果是，则结束调试；否则，继续步骤(6)；

(6)通过样本库计算下次电压值，调节电压，继续步骤(3)，直至判定产品合格。

较佳地，所述的步骤(1)具体包括以下步骤：

(1.1)检查数据库，通过电压步进调试测试，记录充磁电压，测试数据；

(1.2)判断是否存在样本库，如果是，则加载样本库，继续步骤(2)；否则，通过多个样品初步建立样本库，继续步骤(2)。

较佳地，所述的步骤(6)具体包括以下步骤：

(6.1)根据样本库判断是否继续调试，如果是，则继续步骤(6.2)；否则，结束调试；

(6.2)通过样本库计算调试量化的下次电压值；

(6.3)根据计算结果调节电压，继续步骤(3)，直至判定调试结果通过。

较佳地，所述的方法还包括根据通过样本库根据初测值得出充磁电压的步骤，具体包括以下步骤：