[发明专利]一种用于电子产品的热风湿热一体老化测试结构在审
申请号: | 202110053739.9 | 申请日: | 2021-01-15 |
公开(公告)号: | CN112748303A | 公开(公告)日: | 2021-05-04 |
发明(设计)人: | 李素萍 | 申请(专利权)人: | 深圳市渝华发电子科技有限公司 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00;G01N17/00 |
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地址: | 518000 广东省深圳市宝*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 电子产品 热风 湿热 一体 老化 测试 结构 | ||
本发明提供一种用于电子产品的热风湿热一体老化测试结构,属于测试设备技术领域,该用于电子产品的热风湿热一体老化测试结构包括外壳,所述外壳的内壁从上至下依次固定连接有出气盒和固定板,所述固定板的上表面固定连接有支撑块,所述支撑块的上表面设置有支撑板,所述支撑板的上表面开设有卡槽,所述卡槽的内壁固定连接有支架,所述支架和支撑板之间通过螺母进行固定连接。通过设置的载板,可以通过四个载板对产品的四个角进行支撑,使被测试产品的底面空余出来,达到更好的测试效果,从而解决了现有技术中测试工序复杂效率低以及普通的载板和产品的底面直接接触导致被测试产品不能全面的接受到热风湿热老化测试的问题。
技术领域
本发明属于测试设备技术领域,具体涉及一种用于电子产品的热风湿热一体老化测试结构。
背景技术
老化测试项目是指模拟产品在现实使用条件中涉及到的各种因素对产品产生老化的情况进行相应条件加强实验的过程,该实验主要针对塑胶材料,如常见的热风湿热老化。
在电子产品的生产中,常常需要对生产的电子产品或电子产品组装零配件等进行热风湿热老化测试,当前用于热风湿热的结构,其通常为分体式的结构即两种不同的结构,测试工序复杂且老化测试效率低。
发明内容
本发明的目的在于提供一种用于电子产品的热风湿热一体老化测试结构,旨在解决现有技术中测试工序复杂效率低以及普通的载板和产品的底面直接接触导致被测试产品不能全面的接受到热风湿热老化测试的问题。
为实现上述目的,本发明提供如下技术方案:一种用于电子产品的热风湿热一体老化测试结构,包括外壳,所述外壳的内壁从上至下依次固定连接有出气盒和固定板,所述固定板的上表面固定连接有支撑块,所述支撑块的上表面设置有支撑板,所述支撑板的上表面开设有卡槽,所述卡槽的内壁固定连接有支架,所述支架和支撑板之间通过螺母进行固定连接,所述螺母和支撑板的连接处设置有垫圈,所述支架的顶端固定连接有固定架,所述固定架的侧面插接有载物杆,所述载物杆的一端固定连接有载板,所述载板四个为一组,所述载物杆和固定架之间通过螺钉进行固定连接,所述螺钉和载物杆的连接处设置有垫片,所述外壳的内顶面固定连接有出风管,所述出风管的内顶面固定连接有加热丝,所述出风管的背面固定连接有导风管,所述导风管的一端固定连接有风机,所述出气盒的背面固定连接有导管,所述导管的一端固定连接有加湿器,所述外壳的背面固定连接有挡板,所述风机的表面和挡板的表面之间进行固定连接,所述加湿器的表面和挡板的表面之间进行固定连接,所述挡板的背面固定连接有框体,所述框体的背面固定连接有后盖,所述外壳的下表面固定连接有底板。
为了使得该一种用于电子产品的热风湿热一体老化测试结构达到方便进行控制的作用,作为本发明一种优选的,所述底板的一侧固定连接有固定块,所述固定块的上表面活动连接有支撑管,所述支撑管的内壁活动连接有支撑杆,所述支撑杆的定顶端活动连接有第二连杆,所述第二连杆上表面的一端活动连接有第一连杆,所述第一连杆上表面的一端活动连接有控制台,所述控制台的下表面固定连接有控制台把手,所述控制台的上表面设置控制器。
为了使得该一种用于电子产品的热风湿热一体老化测试结构达到对该装置内部进行密封的作用,作为本发明一种优选的,所述外壳的正面活动连接有活动门,所述活动门背面的四周固定连接有密封胶条。
为了使得该一种用于电子产品的热风湿热一体老化测试结构达到方便取出和放入被测产品的作用,作为本发明一种优选的,所述支撑板的下表面固定连接有支撑板把手。
为了使得该一种用于电子产品的热风湿热一体老化测试结构达到显示该装置内部温度湿度以及压力的作用,作为本发明一种优选的,所述活动门的正面从左至右依次固定连接有门把手和仪表盘。
为了使得该一种用于电子产品的热风湿热一体老化测试结构达到监测内部状态的作用,作为本发明一种优选的,所述活动门的背面固定连接有监测器。
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