[发明专利]一种用于电子产品的热风湿热一体老化测试结构

权利要求书

1.一种用于电子产品的热风湿热一体老化测试结构，包括外壳(4)，其特征在于：所述外壳(4)的内壁从上至下依次固定连接有出气盒(22)和固定板(42)，所述固定板(42)的上表面固定连接有支撑块(19)，所述支撑块(19)的上表面设置有支撑板(24)，所述支撑板(24)的上表面开设有卡槽(25)，所述卡槽(25)的内壁固定连接有支架(28)，所述支架(28)和支撑板(24)之间通过螺母(27)进行固定连接，所述螺母(27)和支撑板(24)的连接处设置有垫圈(26)，所述支架(28)的顶端固定连接有固定架(31)，所述固定架(31)的侧面插接有载物杆(29)，所述载物杆(29)的一端固定连接有载板(30)，所述载板(30)四个为一组，所述载物杆(29)和固定架(31)之间通过螺钉(32)进行固定连接，所述螺钉(32)和载物杆(29)的连接处设置有垫片(33)，所述外壳(4)的内顶面固定连接有出风管(23)，所述出风管(23)的内顶面固定连接有加热丝(35)，所述出风管(23)的背面固定连接有导风管(40)，所述导风管(40)的一端固定连接有风机(41)，所述出气盒(22)的背面固定连接有导管(38)，所述导管(38)的一端固定连接有加湿器(39)，所述外壳(4)的背面固定连接有挡板(3)，所述风机(41)的表面和挡板(3)的表面之间进行固定连接，所述加湿器(39)的表面和挡板(3)的表面之间进行固定连接，所述挡板(3)的背面固定连接有框体(2)，所述框体(2)的背面固定连接有后盖(1)，所述外壳(4)的下表面固定连接有底板(12)。

2.根据权利要求1所述的一种用于电子产品的热风湿热一体老化测试结构，其特征在于：所述底板(12)的一侧固定连接有固定块(13)，所述固定块(13)的上表面活动连接有支撑管(10)，所述支撑管(10)的内壁活动连接有支撑杆(8)，所述支撑杆(8)的定顶端活动连接有第二连杆(36)，所述第二连杆(36)上表面的一端活动连接有第一连杆(6)，所述第一连杆(6)上表面的一端活动连接有控制台(7)，所述控制台(7)的下表面固定连接有控制台把手(34)，所述控制台(7)的上表面设置控制器(5)。

3.根据权利要求1所述的一种用于电子产品的热风湿热一体老化测试结构，其特征在于：所述外壳(4)的正面活动连接有活动门(17)，所述活动门(17)背面的四周固定连接有密封胶条(20)。

4.根据权利要求1所述的一种用于电子产品的热风湿热一体老化测试结构，其特征在于：所述支撑板(24)的下表面固定连接有支撑板把手(18)。

5.根据权利要求3所述的一种用于电子产品的热风湿热一体老化测试结构，其特征在于：所述活动门(17)的正面从左至右依次固定连接有门把手(15)和仪表盘(16)。

6.根据权利要求3所述的一种用于电子产品的热风湿热一体老化测试结构，其特征在于：所述活动门(17)的背面固定连接有监测器(21)。

7.根据权利要求1所述的一种用于电子产品的热风湿热一体老化测试结构，其特征在于：所述外壳(4)的侧面固定连接有锁具(14)。

8.根据权利要求2所述的一种用于电子产品的热风湿热一体老化测试结构，其特征在于：所述支撑管(10)的外表面固定连接有螺杆(9)。

9.根据权利要求1所述的一种用于电子产品的热风湿热一体老化测试结构，其特征在于：所述后盖(1)的表面开设有通风槽(37)。

10.根据权利要求1所述的一种用于电子产品的热风湿热一体老化测试结构，其特征在于：所述底板(12)的下表面固定连接有支撑脚(11)。