[发明专利]一种电子产品防尘性能无损测试方法

说明书

本发明公开了一种电子产品防尘性能无损测试方法，包括以下步骤，干燥处理，将电子产品放置在高温干燥箱中干燥，然后静置一段时间取出；电子产品预处理，对经过干燥处理的电子产品进行检查，检查电子产品中密封圈的硬度、老化程度和形变，并记录数据；开启测试，向砂尘箱中加入砂尘粉和铁屑粉，将电子产品放入砂尘箱中，砂尘箱的风扇通电工作；停止测试，关闭砂尘箱的风扇，等待砂尘完全沉降后打开砂尘箱，取出电子产品。本发明的优点在于砂尘粉中混入铁屑粉，再将电子产品置于砂尘箱中，砂尘箱进行低频振动，电子产品的磁力能够吸引铁屑粉，在振动的作用下铁屑粉更容易进入电子产品内部，从而提高防尘测试的效果。

技术领域

本发明涉及电子产品防尘技术领域，特别是涉及一种电子产品防尘性能无损测试方法。

背景技术

随着电子产品的更新越来越快，每个人身边都有多件电子产品，比如手机、电脑、电子手表等，人们对电子产品的要求也越来越高，电子产品对水、灰尘、污垢等其他污染物比较敏感，需要进行防护避免空气中的灰尘等对电子产品产生影响，从而提高电子产品的耐用性，因此电子产品出厂前会进行防尘性能的检测，有效地检测电子产品的防尘性能。

现有的防尘性能测试方法采用激光检测方法，利用激光遇到障碍物会改变透射光强的原理，由激光器向电子产品发射激光，激光从电子产品透射时会发生衰减，并且激光的衰减程度受灰尘影响，因此通过检测电子产品透射的激光的透射光强，可以确定电子产品的防尘性能，但是采用激光检测方法只能针对透明外壳的电子产品，而且实施难度大成本高，操作和使用维护都很困难。

发明内容

本发明的目的在于提供一种电子产品防尘性能无损测试方法，能够发现电子产品的内在缺陷，并且模拟沙尘暴天气对防尘性能的测试，从而有针对性的进行改正，提高防尘测试的效果和测试的准确性。

一种电子产品防尘性能无损测试方法，包括以下步骤：

步骤1，干燥处理，将电子产品放置在高温干燥箱中干燥，然后静置一段时间取出；

步骤2，电子产品预处理，对经过干燥处理的电子产品进行检查，检查电子产品中密封圈的硬度、老化程度和形变，并记录数据；

步骤3，开启测试，向砂尘箱中加入砂尘粉和铁屑粉，将电子产品放入砂尘箱中，砂尘箱的风扇通电工作；

步骤4，停止测试，关闭砂尘箱的风扇，等待砂尘完全沉降后打开砂尘箱，取出电子产品；

步骤5，防尘检测，按照防尘性能技术要求进行检查，检查电子产品内进入灰尘的量和灰尘沉降的位置。

进一步，干燥处理中，将电子产品放入干燥箱内，在60度的温度下干燥10小时。

进一步，电子产品预处理中，对电子产品密封圈的检查包括密封圈尺寸的检查和密封圈材料的老化程度检查。

进一步，开启测试中，砂尘粉中混入铁屑粉，再将电子产品置于砂尘箱中，砂尘箱进行低频振动，振动持续时间为6小时。

砂尘粉中混入铁屑粉，再将电子产品置于砂尘箱中，砂尘箱进行低频振动，电子产品的磁力能够吸引铁屑粉，在振动的作用下铁屑粉更容易进入电子产品内部，从而提高防尘测试的效果。

进一步，砂尘箱进行低频振动是将砂尘箱固定安装于振动台上，通过振动台的振动带动砂尘箱振动，进而带动砂尘箱内的铁屑粉振动。

振动台的振动带动砂尘箱振动，进而带动砂尘箱内的铁屑粉振动，从而实现振动的自动化，便于调节振动频率和振动时间，使振动更加可控。

进一步，停止测试中，取出电子产品后，去除其表面的砂尘粉和铁屑粉。

进一步，防尘检测中，采用高斯计测试电子产品的磁通量，比较测试前后磁通量的大小，评估电子产品的防尘性能。

比较测试前后磁通量的大小，确定电子产品内部的磁场发生的变化，从而能够无损检测电子产品的防尘性能。