[发明专利]一种长焦距非接触测试跳线装置

说明书

本发明提供了本发明的目的就是要提供一种长焦距非接触测试跳线装置，包括测试产品、测试套管，测试套管设于测试产品内、长焦非接触跳线器，光纤透镜采用胶固的方式在长焦插芯内固定，所述长焦非接触跳线器包括长焦插芯、长焦透镜单元，所述长焦透镜单元包括长焦距聚焦透镜、带尾柄测试跳线、聚焦透镜定位器、限位金属套管和透镜定位防护部。实际使用时，将测试线尾柄插芯插入测试器件，带尾柄测试跳线在前盖端定位焦距，通过激光透过光纤透镜聚焦,焦点落在光纤纤芯内，最终实现非接触测试作业。

技术领域：

本发明涉及通信技术领域，主要是涉及一种光纤跳线的测试，特别是一种长焦距非接触测试跳线装置。

背景技术：

光纤通信技术已广泛应用于各个领域，随着传输速率和距离的提高，光纤通质量和光纤端面质量的要求也越来越高。现有光纤对接与原有电缆对接有很大不同，电缆只要接触良好即可，而光纤端面对接需要在上下、左右、前后、倾角等方面做严格的控制，才能达到很好的插损要求。由于光纤真正用于通光的部分尺寸较小，基本在微米量级，不方便对接操作，实际使用中常需要在光纤外加装配对接装置。或者是采用接触式对接方式进行光纤测试跳线的对接。

传统的测试跳线在现实测试作业过程中，为保证测试损耗尽量小且可控,均采用接触测试的方法，但接触测试带来的现实管控风险非常高，受脏污等外界因素影响,往往容易因对接导致测试插芯端面损伤或测试产品端面损伤和脏污，如果采用其他的专用的测试设备，不仅设备价格高，且操作困难，难以保证产品质量和生产周期，并且也会大幅度增加加工成本，而且质量得不到保证。

在现实的实际生产和使用过程中，真正通光区域为光纤核心区域，陶瓷端面的损伤基本不影响光信号传输。而光纤端面的损伤主要有两种情况，一是光纤端面对接过程中造成通光区域损伤；二是由于操作或环境污染导致陶瓷端面附着有脏污，这种脏污可以随机无规则移动，当脏污移动到光纤端面时，会影响光信号传输，必须及时清洁，在对光纤端面擦拭或清洁脏污时，又会再次对光纤端面造成损伤。在拆卸返修中，当跳线与跳线的对接时，由于陶瓷端面外露，陶瓷端面损伤后的二次研磨的方式修复，造成成本较高，且返修后产品3D 指标，插拔重复性，四向性，互换性等品质均难以达到要求，因此质量不好，且返修次数有限，端面受损后基本做报废处理。还存在严重的可靠性和稳定性，导致测试结果不准，甚至导致光纤链路连接失效。

中国专利公告号为CN1106327019A《一种非接触式无损光纤跳线及制作方法》，具体公开了一种非接触式无损光纤跳线及制作方法，包括陶瓷插芯、适配器金属外壳、陶瓷套筒、适配器段插芯、光纤，所述陶瓷插芯和适配器段插芯的内部预埋光纤，陶瓷插芯和适配器段插芯的一端对接，所述陶瓷插芯和适配器段插芯对接处的外部套设有陶瓷套筒，所述陶瓷套筒置于适配器金属外壳内，其特征在于：所述陶瓷插芯的端面沿光纤的外围设置有环形凹槽。本可是实现了跳线与跳线，跳线与适配器中光纤端面之间的非接触式对准，避免了光纤端面的对接损伤。但从上述所公开的技术方案可以看出，其是不能实现光线的自动聚焦对接，且其仅是对现有的跳线对接设备的改进，不能从原理上与技术方法上对现有的跳线对接进行较彻底改进，且装置结构复杂，制备成本高。

如中国专利公告CN 15974526 A《一种FC型硫系玻璃光纤连接器的加工方法》，具体公开了一种FC型硫系玻璃光纤连接器的加工方法，抛光前只去除光纤两端表面的有机塑料涂覆层，且在光纤上套上一根塑料套管，以确保在加工及使用过程中光纤不会断裂或者折损；其方法是通过陶瓷插芯固定裸光纤，该陶瓷插芯的对接端面呈球面，可采用石英光纤跳线常用的陶瓷插芯，元件易得、来源广；可有效克服硫系玻璃光纤机械强度差、易折断、难加工的弊端，快速、简便加工FC型硫系玻璃光纤连接器，加工制备的FC型硫系玻璃光纤连接器端面质量高，插入损耗低，可以方便地与其他光纤设备耦合连接。