[发明专利]质谱方法在审

专利信息
申请号: 202080060768.1 申请日: 2020-08-22
公开(公告)号: CN114286939A 公开(公告)日: 2022-04-05
发明(设计)人: Y·勒布朗 申请(专利权)人: DH科技发展私人贸易有限公司
主分类号: G01N30/02 分类号: G01N30/02;G01N30/72
代理公司: 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 代理人: 冯雯
地址: 新加坡*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 方法
【说明书】:

在一系列批次样本中的每个样本被引入液体样本输送装置之前,离子源装置从液体样本输送装置接收水性流动相溶液并使其化合物电离,从而产生离子束。串联质谱仪对离子束执行中性丢失扫描或前体离子扫描,以测量对应于已知水性流动相溶液化合物的两种或更多种前体离子的强度。将两种或更多种不同前体离子中的每一种的强度测量与先前存储的强度进行比较以确定这些测量指示孔口污染的阈值时间。然后基于所关注的已知化合物的m/z值以及两种或更多种不同前体离子中的每一种的m/z值和阈值时间,来预测批次样本的所关注的已知化合物的阈值时间。

相关申请

本申请要求于2019年8月30日提交的美国临时专利申请序列号62/894,356的权益,该美国临时专利申请的内容通过引用整体并入本文。

技术领域

本文的教导涉及用于在批次样本分析期间预测所关注的已知化合物的测量何时将受到质谱仪孔口污染影响的质谱设备。更具体地,离子源装置和串联质谱仪用于在针对已知化合物分析一系列批次样本中的每个样本之前测量液体样本输送装置的水性流动相溶液的质子化溶剂相关离子。质子化溶剂相关离子的测量用于预测已知化合物的测量何时将受到串联质谱仪的孔口的污染影响。

本文公开的设备和方法可以与处理器、控制器、微控制器或计算机系统(诸如图1的计算机系统)结合执行。

背景技术

质谱法背景

质谱法(MS)是一种基于由化学化合物形成的离子的m/z值的分析来检测和定量这些化合物的分析技术。MS涉及使来自样本的所关注的一种或多种化合物电离、产生前体离子、以及对前体离子进行质量分析。

串联质谱法或质谱法/质谱法(MS/MS)涉及使来自样本的所关注的一种或多种化合物电离、选择该一种或多种化合物的一种或多种前体离子、将该一种或多种前体离子碎裂为产物离子、以及对产物离子进行质量分析。

MS和MS/MS二者都可以提供定性和定量信息。测得的前体或产物离子谱可用于识别所关注的分子。前体离子和产物离子的强度也可用于定量样本中存在的化合物的量。

串联质谱法可以使用许多不同类型的扫描模式进行。例如,四极串联质谱仪通常可以执行产物离子扫描、中性丢失扫描、前体离子扫描和选定反应监测(SRM)或多反应监测(MRM)扫描。

产物离子扫描通常遵循上述MS/MS方法。通过四极质量过滤器选择一批前体离子。这批前体离子中的每个前体离子在四极碰撞池中碎裂。然后选择每个前体离子的所有所得产物离子,并使用四极质量分析器对其进行质量分析,从而产生针对每个前体离子的产物离子谱。例如,产物离子扫描用来识别特定前体离子的所有产物。

在中性丢失扫描中,第一质量分析器(Q1)和第二质量分析器(Q3)二者都扫描质量范围、固定质量间隔。如果由Q1四极选择的前体离子因失去指定的中性丢失(固定质量)而碎裂,则观察或测量到前体离子的响应或强度和m/z。此扫描用于确认前体离子的存在,或者更常见的是,用于识别共同拥有共同的中性丢失的化合物。

在前体离子扫描中,Q3第二质量分析器被固定在指定的质荷比以传输特定的产物离子,并且Q1质量分析器扫描质量范围。如果发现该特定的产物离子,则观察或测量到前体离子的响应或强度和m/z。此扫描用于确认前体离子的存在,或者更常见的是,用于识别共同拥有共同的产物离子的化合物。

在SRM或MRM扫描中,至少一对前体离子和产物离子是预先已知的。然后四极质量过滤器选择这一种前体离子。四极碰撞池使前体离子碎裂。然而,仅选择具有这对前体离子和产物离子中的产物离子的m/z的产物离子并使用四极质量分析器对其进行质量分析,从而产生这对前体离子和产物离子中的产物离子的强度。换句话说,只有一种产物离子被监测。例如,SRM或MRM扫描主要用于定量。

液体样本输送装置背景

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