[发明专利]质谱方法在审
申请号: | 202080060768.1 | 申请日: | 2020-08-22 |
公开(公告)号: | CN114286939A | 公开(公告)日: | 2022-04-05 |
发明(设计)人: | Y·勒布朗 | 申请(专利权)人: | DH科技发展私人贸易有限公司 |
主分类号: | G01N30/02 | 分类号: | G01N30/02;G01N30/72 |
代理公司: | 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 | 代理人: | 冯雯 |
地址: | 新加坡*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 方法 | ||
1.一种用于在批次样本分析期间预测所关注的已知化合物的测量何时将受到质谱仪孔口污染影响的设备,包括:
离子源装置,在一系列批次样本中的每个样本被引入液体样本输送装置之前,所述离子源装置从液体样本输送装置接收水性流动相溶液并使水性流动相溶液的化合物电离,从而产生水性流动相溶液化合物的离子束;以及
串联质谱仪,在所述一系列批次样本中的每个样本被引入液体样本输送装置之前,所述串联质谱仪从离子源装置接收水性流动相溶液化合物的离子束,执行中性丢失扫描或前体离子扫描以测量离子束的对应于已知水性流动相溶液化合物的具有不同质荷比m/z值的两种或更多种前体离子的强度,从而产生两种或更多种不同前体离子中的每一种的强度测量,串联质谱仪将所述两种或更多种不同前体离子中的每一种的测量强度和时间存储在存储器装置中,将所述两种或更多种不同前体离子中的每一种的测量强度与存储在存储器装置中的先前测量的强度进行比较,直到为所述两种或更多种不同前体离子中的每一种找到阈值时间,在所述阈值时间处所述两种或更多种不同前体离子中的每一种的测量强度由于串联质谱仪的孔口的污染而降低到阈值强度以下,并且串联质谱仪基于所关注的已知化合物的m/z值以及所述两种或更多种不同前体离子中的每一种的m/z值和阈值时间来预测批次样本的所关注的已知化合物的强度由于孔口的污染而降低的时间。
2.根据权利要求1所述的设备,还包括显示装置,其中串联质谱仪在显示装置上显示所关注的已知化合物的强度由于孔口的污染而降低的时间。
3.根据权利要求2所述的设备,其中串联质谱仪还在显示装置上显示在所关注的已知化合物的强度由于孔口的污染而降低的时间之前清洁串联质谱仪的警告。
4.根据权利要求1所述的设备,其中,在所述一系列批次样本中的每个样本被引入液体样本输送装置之前,串联质谱仪在两个或更多个时间段执行中性丢失扫描或前体离子扫描,直到在所述两个或更多个时间段内所述两种或更多种不同前体离子的每个测量强度的变化率减小到阈值变化率以下。
5.根据权利要求4所述的设备,其中,当在所述两个或更多个时间段内所述两种或更多种不同前体离子的每个测量强度的变化率减小到阈值变化率变化率以下时,串联质谱仪在存储器装置中存储所述两种或更多种不同前体离子中的每一种的来自所述两个或更多个时间段中的最晚时间段的测量强度和时间。
6.根据权利要求5所述的设备,其中,当在所述两个或更多个时间段内所述两种或更多种不同前体离子的每个测量强度的变化率减小到阈值变化率变化率以下时,串联质谱仪将所述两种或更多种不同前体离子中的每一种的来自所述两个或更多个时间段中的最晚时间段的测量强度与存储在存储器装置中的先前测量的强度进行比较,直到为所述两种或更多种不同前体离子中的每一种找到阈值时间,在所述阈值时间处所述两种或更多种不同前体离子中的每一种的测量强度由于孔口的污染而降低到阈值强度以下。
7.根据权利要求1所述的设备,其中水性流动相溶液化合物包括已知溶剂的二聚体、三聚体或四聚体。
8.根据权利要求1所述的设备,其中已知水性流动相溶液化合物包括已知溶剂。
9.根据权利要求8所述的设备,其中,已知溶剂包括甲醇。
10.根据权利要求8所述的设备,其中,已知溶剂包括乙腈。
11.根据权利要求8所述的设备,其中,已知溶剂包括异丙醇IPA或丙酮中的一种。
12.根据权利要求1所述的设备,其中已知水性流动相溶液化合物包括已知流动相添加剂。
13.根据权利要求12所述的设备,其中,已知流动相添加剂包括甲酸、乙酸和甲酸铵中的一种。
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