[发明专利]应力解析装置

说明书

本发明提供一种能够获得精度被进一步改善的应力图像的应力解析装置。应力解析装置具备：摄像元件，其针对对象物的同一区域获取2个以上的同一时间范围的温度图像；特征点提取部，其提取各温度图像中的特征点；射影变换部，其将各温度图像进行射影变换后相对于作为基准的温度图像进行位置对准，以使各温度图像中的特征点一致；像素重新排列部，其将进行射影变换后的各温度图像的像素排列相对于作为基准的温度图像的像素排列进行重新排列；应力变换部，其将像素重新排列后的各温度图像乘以应力变换系数来得到各应力图像；以及加法平均部，其对各应力图像进行加法平均来得到加法平均应力图像。

技术领域

本发明涉及一种使用了多个温度图像的应力解析装置。

背景技术

关于根据温度图像进行应力解析的技术，提出了各种各样的技术(例如，参照专利文献1。)。在这些应力解析技术中，利用在从温度图像获得的对象物的温度变化与影响该对象物的应力之间具有线性关系，来从温度图像获得应力图像。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：国际公开第2017/141294号

发明内容

发明要解决的问题

但是，在从一般的温度图像获得应力变化的情况下，由于源自摄像元件的噪声而得不到足够精度的应力图像。

因此，本发明的目的在于提供一种能够获得精度被进一步改善的应力图像的应力解析装置。

用于解决问题的方案

本公开所涉及的应力解析装置具备：

摄像元件，其针对对象物的同一区域获取2个以上的同一时间范围的温度图像；

特征点提取部，其提取各所述温度图像中的特征点；

射影变换部，其将各所述温度图像进行射影变换后相对于作为基准的温度图像进行位置对准，以使各所述温度图像中的特征点一致；

像素重新排列部，其将进行射影变换后的各所述温度图像的像素排列相对于所述作为基准的温度图像的像素排列进行重新排列；

应力变换部，其将像素重新排列后的各所述温度图像乘以应力变换系数来得到各应力图像；以及

加法平均部，其对所述各应力图像进行加法平均来得到加法平均应力图像。

本发明所涉及的应力解析方法包括以下步骤：

针对对象物的同一区域获取2个以上的同一时间范围的温度图像；

提取各所述温度图像中的特征点；

将各所述温度图像进行射影变换后相对于作为基准的温度图像进行位置对准，以使各所述温度图像中的特征点一致；

将进行射影变换后的各所述温度图像的像素排列相对于所述作为基准的温度图像的像素排列进行重新排列；

将像素重新排列后的各所述温度图像乘以应力变换系数来得到各应力图像；以及

对所述各应力图像进行加法平均来得到加法平均应力图像。

本发明所涉及的温度测定装置具备：

摄像元件，其针对对象物的同一区域获取2个以上的同一时间范围的温度图像；

特征点提取部，其提取各所述温度图像中的特征点；

射影变换部，其将各所述温度图像进行射影变换后相对于作为基准的温度图像进行位置对准，以使各所述温度图像中的特征点一致；