[发明专利]确定总校准时间的方法

权利要求书

1.一种用于操作流量计诊断工具的方法，包括：

将诊断工具与流量计传感器组装件对接；

将基础校准仪体积（BPV）输入到诊断工具中；

将每次运行所期望的通过次数输入到诊断工具中；

接收流量计数据；

计算通过预定可重复性要求所必需的估计总校准时间（TPT）；

计算实现计算的TPT所需的估计最小运行次数；

计算流量计传感器组装件流率的标准偏差（σ）；

确定用于计算σ的样本数；

计算仪表特定的因子（MSF）。

2.一种用于操作流量计诊断工具的方法，包括：

将诊断工具与流量计传感器组装件对接；

将最大允许运行次数输入到诊断工具中；

将每次运行所期望的通过次数输入到诊断工具中；

接收流量计数据；

计算通过预定可重复性要求所必需的估计总校准时间（TPT）；

计算估计的最小基础校准仪体积（BPV）；

计算流量计传感器组装件流率的标准偏差（σ）；

确定用于计算σ的样本数；

计算仪表特定的因子（MSF）。

3.根据权利要求1和2所述的方法，其中，MSF包括用于TPT计算的采样率。

4.根据权利要求3所述的方法，其中，通过将用于计算σ的样本数除以样本收集持续时间来计算MSF。

5.一种用于配置流量计系统的诊断工具，包括：

电子设备，被配置为与流量计（5）对接并接收流量计数据；

与电子设备的用户接口，被配置为接受用户输入，其中该输入包括基础校准仪体积（BPV）、每次运行所期望的通过次数和最大允许运行次数中的至少一个；和

处理系统（303），被配置为运行校准例程（315），其中校准例程（315）被配置为进行如下各项中的至少一个：计算通过预定可重复性要求所必需的估计总校准时间（TPT）、计算实现计算的TPT所需的估计最小运行次数和计算估计最小基础校准仪体积（BPV），

计算流量计传感器组装件流率的标准偏差（σ）；

确定用于计算σ的样本数；

计算仪表特定的因子（MSF）。

6.根据权利要求5所述的诊断工具，其中，MSF包括用于TPT计算的采样率。

7.根据权利要求6所述的诊断工具，其中，通过将用于计算σ的样本数除以样本收集持续时间来计算MSF。

8.根据权利要求5所述的诊断工具，其中，电子设备包括用于流量计（5）的仪表电子设备（20）。

9.根据权利要求5所述的诊断工具，其中，计算TPT包括利用不确定性覆盖因子。

10.根据权利要求5所述的诊断工具，其中，计算实现计算的TPT所需的估计最小运行次数包括利用测量的流率和BPV。