[发明专利]事件驱动型传感器的像素大小减小方法

说明书

在一个实施方式中，事件传感器包括：多个像素；外部读出线，该外部读出线在该多个像素间被共享；以及外部处理电路。每个像素被配置为输出指示入射光照强度的像素数据。该外部处理电路被配置为输出像素事件的流。当该外部处理电路的比较器通过该外部读出线从特定像素获得超过阈值的像素数据的样本时生成每个相应的像素事件。

技术领域

本公开总体上涉及图像处理领域，并且具体涉及用于减小事件驱动型传感器的像素大小的技术。

背景技术

事件相机可包括被称为动态视觉传感器(“DVS”)的图像传感器、硅视网膜、基于事件的传感器或无帧传感器。因此，事件相机生成(并传输)关于每个像素传感器处的光强度变化的数据，与之相对，基于帧的相机输出关于每个像素处的绝对光强度的数据。换句话说，当设置在视场内的场景的照明水平保持稳定时，基于帧的相机将继续生成(并传输)关于每个像素处的绝对光强度的数据，而事件相机将抑制生成或传输数据，直到检测到照明水平的变化。

现有的事件传感器可包括局部处理关于光强度变化的数据的像素。在事件传感器的每个像素内提供对数据的此类像素级处理能够限制事件传感器在一些成像应用中的使用。例如，对该数据的像素级处理涉及各种像素内部件，诸如位于每个像素内的增加每个像素的整体物理尺寸(“像素大小”)的比较器和控制器。像素大小的增加能够限制由事件传感器输出的图像数据的分辨率。因此，减小事件传感器像素的像素大小能够促进事件传感器在一些成像应用中的扩展使用。

发明内容

本文公开的各个具体实施涉及用于减小事件驱动型传感器的像素大小的技术。在一个具体实施中，事件传感器包括：多个像素；外部读出线，该外部读出线在该多个像素间被共享；以及外部处理电路。每个像素被配置为输出指示入射光照强度的像素数据。该外部处理电路被配置为输出像素事件的流。当该外部处理电路的比较器通过该外部读出线从特定像素获得超过阈值的像素数据的样本时生成每个相应的像素事件。在一个具体实施中，外部处理电路可在像素子集之间共享，其中使用多个外部处理单元为整个像素阵列服务。在一个具体实施中，外部处理电路可定位在堆叠式传感器的第二层或晶圆上，从而占据像素下面的区域。

在另一个具体实施中，像素包括光电检测器电路、输出节点和插入在光电检测器电路和输出节点之间的读出开关。该光电检测器电路被配置为在样本节点处生成指示入射光照强度的像素数据。该输出节点通过在多个像素间共享的外部读出线耦合到外部处理电路。该外部处理电路被配置为输出像素事件的流，其中在该外部处理电路的比较器通过该外部读出线从特定像素获得超过阈值的像素数据的样本时生成每个相应的像素事件。该读出开关被配置为将该样本节点与该输出节点隔开，直到从该外部处理电路的控制器接收到选择信号。

在另一个具体实施中，事件传感器包括：外部读出线，该外部读出线在多个像素间被共享；以及外部处理电路。每个像素被配置为输出指示入射光照强度的像素数据。该外部处理电路被配置为输出像素事件的流。当该外部处理电路的比较器通过该外部读出线从特定像素获得超过阈值的像素数据的样本时生成每个相应的像素事件。在一个具体实施中，通过数字减影来在像素阵列外部的列电路中实现差分运算。

附图说明

因此，本公开可被本领域的普通技术人员理解，更详细的描述可参考一些例示性具体实施的方面，其中一些具体实施在附图中示出。

图1示出了具有各自提供对每个像素内的像素数据的像素级处理的多个像素的事件传感器的框图。

图2示出了具有被配置为通过在多个像素间共享的外部读出线向外部处理电路输出像素数据的示例性像素的事件传感器的框图。

图3是图2中示出的事件传感器的操作的时序图的示例。

图4是图2中示出的事件传感器的操作的时序图的另一个示例。

图5至图8是各自被配置为通过在多个像素间共享的外部读出线向外部处理电路输出像素数据的其他示例性像素的电路图。