[实用新型]一种用于测量光学晶体的夹具

说明书

本实用新型公开了一种用于测量光学晶体的夹具，包括底座、设置于所述底座上可在底座上转动的转台、设置有所述转台上的限位块以及设置于所述限位块的锁紧机构，所述转台与所述限位块之间形成用于容纳晶体的晶体室，所述锁紧机构穿过所述限位块上端用于锁紧位于所述晶体室内的晶体。本实用新型通过改变晶体室与底座的相对位置来旋转调节光学晶体，具有很好的夹持稳定性能以及不同类型晶体通用性。

技术领域

本实用新型涉及一种光学质量检测夹持工装，特别涉及一种用于测量光学晶体的夹具。

背景技术

当光线穿过某些晶体(如方解石、铌酸锂、钽酸锂等)时，会折射成两束光。其中一束符合一般折射定律称之为寻常光(简称o光)；而另一束的折射率随入射角不同而改变，称为非常光(简称e光)。一般晶体中总有一个或两个方向，当光在晶体中沿此方向传播时，不发生双折射现象，把这个方向叫做晶体的光轴方向。用干涉仪检测光学晶体的透过光学质量时，需要把光学晶体放置在平行测试光路，调整光学晶体的偏摆保证晶体光轴和测试光轴同轴。

对于圆柱形的晶体的测量，目前通常用楔形块来夹持被测件，用手轻轻旋转晶体，观察干涉图样，确定旋转角度。现有的楔形块夹持检测加上人工手动旋转晶体的方法虽然较灵活便捷，但是该方法对操作人员的要求比较高，同时稳定性不佳，且不适用于方形的晶体测量，三角楔形块卡住晶体之后，操作人员不能连续的调节旋转角度以便找到晶体的光轴。此外，三角楔形块只能用于放置光学晶体，旋转晶体匹配光轴时，人为旋转时既要旋转，又要保证稳定；对于方形的晶体，由于楔形块的局限性，不能实现连续的调整光轴。

实用新型内容

实用新型目的：为了解决现有技术的问题，本实用新型提供了一种用于测量光学晶体的夹具，通过改变晶体室与底座的相对位置来旋转调节光学晶体，具有很好的夹持稳定性能以及不同类型晶体通用性。

技术方案：本实用新型所述的一种用于测量光学晶体的夹具，包括底座、设置于所述底座上可在底座上转动的转台、设置有所述转台上的限位块以及设置于所述限位块的锁紧机构，所述转台与所述限位块之间形成用于容纳晶体的晶体室，所述锁紧机构穿过所述限位块上端用于锁紧位于所述晶体室内的晶体。

本实用新型所述的一种优选结构为所述底座上设置有用于容纳转台的圆弧形的限位卡槽。

本实用新型所述的一种优选结构为所述转台上端面设置有用于容纳晶体的第一腔体室，所述限位块的下端面向上凸起形成第二腔体室，所述第一腔体室与所述第二腔体室组成晶体室。

本实用新型所述的一种优选结构为所述转台上设置有用于固定所述限位块的凹槽。

本实用新型所述的一种优选结构为所述转台与所述限位块过盈配合。

本实用新型所述的一种优选结构为所述锁紧机构包括设置于所述限位块顶端的螺纹孔、穿过所述螺纹孔的锁紧螺钉。

有益效果：(1)本实用新型改变晶体室与底座的相对位置来旋转调节光学晶体，获得很好的夹持稳定性能以及不同类型晶体通用性，操作便捷，解决现有常规楔形块稳定性低、通用性不高等问题；(2)本实用新型的夹具可用于测量一定尺寸范围的晶体，并能轻松的旋转晶体找到晶体光轴；(3)本实用新型的稳定性更好，降低了对操作人员的要求。

附图说明

图1为本实用新型的结构示意图；

图2为本实用新型的结构示意图；

图3为本实用新型光学晶体在夹具上配合状态示意图；

图4为本实用新型光学晶体在夹具上配合状态示意图；

图5为本实用新型光学晶体在夹具上的调整状态示意图；

图6为本实用新型光学晶体在夹具上的调整状态示意图。

具体实施方式