[实用新型]极片活性物质的清除设备有效
| 申请号: | 202023239044.X | 申请日: | 2020-12-29 |
| 公开(公告)号: | CN215430632U | 公开(公告)日: | 2022-01-07 |
| 发明(设计)人: | 姜新军;张剑;张小勇;陈雄木 | 申请(专利权)人: | 比亚迪股份有限公司 |
| 主分类号: | B08B7/00 | 分类号: | B08B7/00;B08B5/02;B08B1/04 |
| 代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
| 地址: | 518118 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 活性 物质 清除 设备 | ||
1.一种极片活性物质的清除设备,其特征在于,包括:
激光清除装置,用于通过激光清除极片的活性物质;
物理清除装置,用于通过物理清除法清除所述极片的活性物质;
控制器,与所述激光清除装置、所述物理清除装置通信连接;
所述控制器用于控制所述激光清除装置通过至少两次激光对所述极片在预清除区域的活性物质作薄至预定厚度形成预留层,所述控制器用于控制所述物理清除装置清除所述预留层。
2.如权利要求1所述的清除设备,其特征在于,所述清除设备包括厚度检测装置,所述厚度检测装置与所述控制器通信连接,所述厚度检测装置用于检测所述极片在所述预清除区域的活性物质厚度;
所述控制器用于根据所述活性物质厚度、所述预定厚度及预定规则确定清除厚度值,所述激光清除装置根据所述清除厚度值通过至少两次激光将所述活性物质厚度减薄至所述预定厚度。
3.如权利要求2所述的清除设备,其特征在于,所述厚度检测装置为灰度传感器。
4.如权利要求2所述的清除设备,其特征在于,所述控制器发送清除信号,所述清除信号包括所述清除厚度值,所述激光清除装置用于在接收所述清除信号时,根据所述清除厚度值减薄所述活性物质厚度。
5.如权利要求2所述的清除设备,其特征在于,所述控制器发送清除信号,所述清除信号包括所述清除厚度值,所述激光清除装置用于在接收所述清除信号时,至少两次根据所述清除厚度值将所述活性物质厚度减薄至所述预定厚度。
6.如权利要求2所述的清除设备,其特征在于,所述激光清除装置包括激光发射器和激光调节器,所述激光发射器用于朝向所述预清除区域的活性物质发射激光,所述激光调节器根据所述清除厚度值调节所述激光的功率。
7.如权利要求2所述的清除设备,其特征在于,所述激光清除装置包括激光发射器和激光调节器,所述激光发射用于朝向所述预清除区域的活性物质发射激光,所述激光调节器用于根据所述清除厚度值调节所述激光发射器与所述极片之间的距离。
8.如权利要求6和7中任一项所述的清除设备,其特征在于,所述激光清除装置包括风刀组件,所述风刀组件用于吹除所述预清除区域的浮尘。
9.如权利要求8所述的清除设备,其特征在于,所述激光清除组件包括吸尘组件,所述吸尘组件包括负压生成器和吸尘管道,所述吸尘管道设有位于所述激光发射器与所述极片之间吸风口,所述负压生成器生成负压以吸除所述激光发射器与所述极片之间的飞尘。
10.如权利要求1所述的清除设备,其特征在于,包括多个传动辊,所述多个传动辊用于带动所述极片,使得所述极片上的所述预清除区域由所述激光清除装置移动至所述物理清除装置。
11.如权利要求10所述的清除设备,其特征在于,所述多个传动辊中包括第一支撑辊和第二支撑辊,所述第一支撑辊和所述第二支撑辊用于支撑所述极片以供所述激光清除装置清除所述极片在所述预清除区域的活性物质,当所述预清除区域位于所述激光清除装置,所述预清除区域位于所述第一支撑辊和所述第二支撑辊之间,所述预清除区域所在平面垂直于垂直于水平方向。
12.如权利要求1所述的清除设备,其特征在于,所述清除设备包括可产生负压的真空吸板,所述真空吸板对应所述激光清除装置设置,当所述预清除区域位于所述激光清除装置时,所述真空吸板通过负压作用固定所述极片。
13.如权利要求1所述的清除设备,其特征在于,所述物理清除装置包括驱动组件和毛刷组件,所述驱动组件用于驱动所述毛刷组件在靠近所述极片的第一位置和远离所述极片的第二位置之间移动,当所述极片的所述预清除区域移动至所述物理清除装置,所述毛刷组件在所述第一位置刷除所述预留层以使所述极片在所述预清除区域露出集流体。
14.如权利要求13所述的清除设备,其特征在于,所述物理清除装置还包括粘粉组件,当所述极片经过所述粘粉组件,所述粘粉组件粘除所述集流体表面的粉尘。
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