[实用新型]一种复合型电阻测试电路

权利要求书

1.一种复合型电阻测试电路，其特征在于：由MCU主控板、运算放大器电路、DAC模块、复合输出电路、模式选择开关、采样电阻电路及模拟开关板构成，其中模拟开关板与批量待测电阻相连接并接入MCU主控板受控开通待测电阻，复合输出电路通过MCU主控板和DAC模块驱动控制输出所需的电压或电流，且通过模拟开关板与待测电阻构成导通回路，模式选择开关接入MCU主控板与复合输出电路之间切换输出模式，采样电阻电路与模拟开关板相接并面向MCU主控板反馈电压，运算放大器电路与模拟开关板相接并面向MCU主控板反馈经放大处理的实测电压值。

2.根据权利要求1所述复合型电阻测试电路，其特征在于：所述采样电阻电路由电阻R15、R14、R16串联构成并设有包含继电器K6、K7的采样电阻选择电路，其中电阻R15的一端接入MCU主控器的Vback端，电阻R16的一端接地，继电器K6跨接于电阻R14两端，继电器K7跨接于电阻R16两端。

3.根据权利要求1所述复合型电阻测试电路，其特征在于：所述复合输出电路由运算放大器U1、二极管D1、电阻R1、电阻R2、电阻R12、电阻R13和NPN三极管T1相接构成，所述模式选择开关由继电器K4、继电器K5配合复合输出电路相接构成，其中运算放大器U1的正极输入端与DAC模块的输出端相连接，运算放大器U1的负极输入端通过继电器K5与采样电阻电路一并接入模拟开关板，并通过继电器K4与电阻R12接电压输出点A、通过继电器K4与电阻R13接地，电阻R2的一端与运算放大器U1的输出端相接、另一端接二极管D1的负极和NPN三极管T1的基极，且二极管D1的正极、NPN三极管T1的发射极接电压输出点A。

4.根据权利要求3所述复合型电阻测试电路，其特征在于：所述运算放大器U1周边接设有用于滤波的电容C1、电容C2、电容C5以及用于断路保护的电阻R1，其中电阻R1接入电容C1与NPN三极管T1的集电极之间，电容C5接入运算放大器U1的输出端与继电器K4、继电器K5的共联点之间。

5.根据权利要求1所述复合型电阻测试电路，其特征在于：所述运算放大器电路由运算放大器U2、电阻R3~R11、继电器K1~K3相接构成，其中运算放大器U2的正极输入端和负极输入端接入模拟开关板，且电阻R3、电阻R4相接构成负极输入端的调零电阻，电阻R5、电阻R6相接构成正极输入端的调零电阻，电阻R7、电阻R8构成接入MCU主控板的分压电路，电阻R9~R11与继电器K1~K3构成选择电压放大倍数的子电路。

6.根据权利要求5所述复合型电阻测试电路，其特征在于：所述运算放大器U2周边接设有用于滤波的电容C3、电容C4。

7.根据权利要求1所述复合型电阻测试电路，其特征在于：所述模拟开关板为由模拟开关组成的开关板电路，对应每个待测电阻设置包括两端及中段分布的四个测试点，且每个测试点与模拟开关板中一个模拟开关相连接。