[实用新型]一种芯片角度检测装置

说明书

本实用新型公开了一种芯片角度检测装置，包括：信号发生机构、进料机构、转运机构及检测机构，信号发生机构包括支撑柱、信号轮及第一转动驱动件；进料机构用于放置芯片产品并将所述芯片产品输送至取料工位；转运机构包括工作台、第二转动驱动件、横向伸缩杆、竖向伸缩杆及真空吸盘；检测机构包括检测器、插块及推动驱动件。本实用新型提出的技术方案的有益效果是：通过进料机构将待检测的芯片产品输送至取料工位，通过转运机构将取料工位上的芯片产品输送至工作台上的限位槽内，通过推动驱动件使检测器的第一接口与芯片产品的第二接口电连接，通过本装置不需要人工放置和电连接芯片产品，自动化程度较高、提高了检测效率，降低了生产成本。

技术领域

本实用新型涉及芯片检测技术领域，尤其是涉及一种芯片角度检测装置。

背景技术

现有一种芯片，该芯片上集成了霍尔传感器，该芯片封装于一壳体内，在使用时将所述壳体安装于一设备(如汽车)上，从而可通过该芯片检测设备上的一些参数值(例如传动轴的转速等，此为现有技术，对此不再赘述)。

芯片在壳体内安装角度不同，对检测得到的参数值的准确度会造成一定的影响，因此，在芯片产品(包括芯片及壳体)出厂前需要检测该芯片在壳体内的安装角度是否在标准范围内，具体检测方法是将芯片产品放置在检测工位，再将芯片产品的接口与检测工位上检测器的接口电连接，在该检测工位附近设置有一可转动的信号轮，信号轮上安装有若干个永磁体，通过恒速电机转动信号轮，使永磁体转动，在此过程中通过检测器检测芯片产品内的电压值的变化，并与标准值进行对比，从而判断该芯片产品是否合格。

现有的这种芯片角度检测装置需要人工放置芯片产品并将芯片产品与检测器电连接，自动化程度低、检测效率较低，导致生产成本较大。

实用新型内容

有鉴于此，有必要提供一种芯片角度检测装置，用以解决现有的芯片角度检测装置自动化程度低、生产成本较大的技术问题。

一种芯片角度检测装置，包括：

信号发生机构，所述信号发生机构包括支撑柱、信号轮及第一转动驱动件，所述信号轮转动设置于所述支撑柱上，所述信号轮上固定有至少一永磁体，所述第一转动驱动件与所述信号轮连接且用于驱动所述信号轮转动；

进料机构，所述进料机构用于放置芯片产品并将所述芯片产品输送至取料工位；

转运机构，所述转运机构包括工作台、第二转动驱动件、横向伸缩杆、竖向伸缩杆及真空吸盘，所述工作台上开设有与所述芯片产品相配合的限位槽，所述第二转动驱动件与所述横向伸缩杆连接且用于使所述横向伸缩杆水平转动，所述竖向伸缩杆竖直设置且固定于所述横向伸缩杆上，所述真空吸盘固定于所述竖向伸缩杆的下端，所述真空吸盘可跟随所述竖向伸缩杆转动至所述取料工位的上方或所述限位槽的上方；

检测机构，所述检测机构包括检测器、插块及推动驱动件，所述检测器具有第一接口，所述第一接口固定于所述插块上，所述推动驱动件与所述插块连接且用于将所述插块移动至第一位置或第二位置，当所述插块位于第一位置时，所述第一接口与位于所述限位槽内的芯片产品的第二接口电连接，当所述插块位于第二位置时，所述第一接口与位于所述限位槽内的芯片产品的第二接口的电连接断开。

进一步地，所述第一转动驱动件为第一电机，所述第一电机与所述信号轮连接且用于驱动所述信号轮转动。

进一步地，所述进料机构包括进料支架及进料输送带，所述进料输送带安装于所述进料支架上，所述进料输送带上用于放置所述芯片产品，以将所述芯片产品输送至所述取料工位。

进一步地，所述第二转动驱动件为第二转动电机，所述第二转动电机与所述横向伸缩杆连接且用于驱动所述横向伸缩杆水平转动。

进一步地，所述芯片角度检测装置还包括第一出料机构，所述第一出料机构包括第一支架及第一出料输送带，所述真空吸盘可跟随所述竖向伸缩杆转动至所述第一出料输送带的上方。