[实用新型]一种IC测试设备用的测试座有效

专利信息
申请号: 202022133496.3 申请日: 2020-09-25
公开(公告)号: CN213843305U 公开(公告)日: 2021-07-30
发明(设计)人: 卢朝;卢小品;栗帅 申请(专利权)人: 昆山捷誉兴精密机械有限公司
主分类号: G01R1/04 分类号: G01R1/04;G01R31/28
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 215000 江苏省苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 ic 测试 备用
【说明书】:

实用新型公开了一种IC测试设备用的测试座,包括测试座主体,所述测试座主体的上端外表面设置有插板,所述插板的上端外表面设置有固定板,所述固定板的上端外表面设置有防水密封结构,所述防水密封结构包括一号防水壳、密封板、防水框与二号防水壳,所述测试座主体的一侧设置有进料管,所述测试座主体的另一侧设置有出料管,所述测试座主体的上端外表面设置有防尘活动盖板。本实用新型所述的一种IC测试设备用的测试座,通过设计的防水密封结构,能提升装置在使用过程中的安全性,使装置的防水效果更好,通过设计的防尘活动盖板,能使装置的防尘性更好,延长装置的使用寿命,带来更好的使用前景。

技术领域

本实用新型涉及IC测试设备领域,特别涉及一种IC测试设备用的测试座。

背景技术

IC测试座是对IC器件的电性能及电气连接进行测试来检查生产制造缺陷及元器件不良的一种标准测试设备,随着科技的不断发展,人们对于IC测试座的制造工艺要求也越来越高。

现有的IC测试座IC测试座在使用时存在一定的弊端,首先,连接口的密封性不强,防水性低,不利于人们的使用,还有,防尘效果不好,给人们的使用过程带来了一定的不利影响,为此,我们提出一种IC测试设备用的测试座。

实用新型内容

(一)解决的技术问题

针对现有技术的不足,本实用新型提供了一种IC测试设备用的测试座,具备连接口的密封性强,防水性高,还有,防尘效果好等优点,可以有效解决背景技术中的问题。

(二)技术方案

为实现上述目的,本实用新型采取的技术方案为:一种IC测试设备用的测试座,包括测试座主体,所述测试座主体的上端外表面设置有插板,所述插板的上端外表面设置有固定板,所述固定板的上端外表面设置有防水密封结构,所述防水密封结构包括一号防水壳、密封板、防水框与二号防水壳,所述测试座主体的一侧设置有进料管,所述测试座主体的另一侧设置有出料管,所述测试座主体的上端外表面设置有防尘活动盖板,所述防尘活动盖板包括一号侧护板、活动块、顶板、卡扣与二号侧护板。

优选的,所述一号防水壳位于密封板的一侧外表面,所述密封板位于防水框的一侧外表面,所述防水框位于二号防水壳的一侧外表面。

优选的,所述一号侧护板位于活动块的下端外表面,所述活动块位于顶板的一侧外表面,所述卡扣位于顶板的前端外表面,所述二号侧护板位于顶板的另一侧外表面。

优选的,所述一号防水壳与密封板之间设置有固定胶,所述一号防水壳的一侧外表面通过固定胶与密封板的一侧外表面固定连接,所述密封板与防水框之间设置有粘合剂,所述密封板的一侧外表面通过粘合剂与防水框的一侧外表面固定连接。

优选的,所述一号侧护板与活动块之间设置有活动连接柱,所述一号侧护板的上端外表面通过活动连接柱与活动块的下端外表面活动连接,所述顶板与卡扣之间设置有连接槽,所述顶板的一侧外表面通过连接槽与卡扣的一侧外表面可拆卸连接。

优选的,所述防水密封结构与固定板之间设置有设置有卡槽,所述固定板的上端外表面通过卡槽与防水密封结构的下端外表面可拆卸连接。

优选的,所述防尘活动盖板的下端外表面通过卡扣与测试座主体的上端外表面可拆卸连接。

(三)有益效果

与现有技术相比,本实用新型提供了一种IC测试设备用的测试座,具备以下有益效果:

1、该IC测试设备用的测试座,通过设计的防水密封结构,能提升装置在使用过程中的安全性,使装置的防水效果更好,延长了装置的使用寿命,提升了装置在连接过程中的密封性,给装置带来更好的使用效果,通过设计的一号防水壳与二号防水壳,能使装置的防水性更好,通过设计的密封板,能提升装置在连接的过程中紧密性,从而使装置的密封性更好,便于装置的使用。

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