[实用新型]全光谱反射膜有效

专利信息
申请号: 202021621706.7 申请日: 2020-08-06
公开(公告)号: CN213122342U 公开(公告)日: 2021-05-04
发明(设计)人: 杨荣贵;翟怀伦;王明辉 申请(专利权)人: 宁波瑞凌新能源科技有限公司;宁波瑞凌新能源材料研究院有限公司
主分类号: G02B5/08 分类号: G02B5/08
代理公司: 杭州华进联浙知识产权代理有限公司 33250 代理人: 储照良
地址: 315000 浙*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 光谱 反射
【权利要求书】:

1.一种全光谱反射膜,其特征在于,包括基膜和依次层叠设置于所述基膜上的第一反射层、第二反射层和第三反射层,所述第一反射层的厚度小于等于15nm,所述第三反射层的厚度大于等于25nm,所述第一反射层为银层或银合金层,所述第二反射层为铝层,所述第三反射层包括银层、银合金层、钛层、钛合金层中的一种。

2.根据权利要求1所述的全光谱反射膜,其特征在于,所述第一反射层的厚度为5nm-15nm;

及/或,所述第二反射层的厚度为30nm-40nm;

及/或,所述第三反射层的厚度为25nm-50nm。

3.根据权利要求1所述的全光谱反射膜,其特征在于,所述第一反射层和所述第二反射层之间还设置有第一阻隔层,所述第一阻隔层的厚度为4nm-20nm。

4.根据权利要求3所述的全光谱反射膜,其特征在于,所述第二反射层和所述第三反射层之间还设置有第二阻隔层,所述第二阻隔层的厚度为4nm-20nm。

5.根据权利要求4所述的全光谱反射膜,其特征在于,所述第一阻隔层包括金属氟化物层、金属氮化物层、半导体掺杂化合物层中的一种;

及/或,所述第二阻隔层包括金属氟化物层、金属氮化物层、半导体掺杂化合物层中的一种。

6.根据权利要求4所述的全光谱反射膜,其特征在于,所述基膜和所述第一反射层之间还设置有介质层,所述介质层的厚度为0.1nm-2.5nm。

7.根据权利要求6所述的全光谱反射膜,其特征在于,所述介质层包括金属层、金属氮化物层、半导体掺杂化合物层中的一种。

8.根据权利要求4所述的全光谱反射膜,其特征在于,所述第三反射层背离所述第二反射层的表面上还设置有保护层,所述保护层的厚度为0.1nm-25nm。

9.根据权利要求8所述的全光谱反射膜,其特征在于,所述保护层包括金属层、金属氮化物层、半导体掺杂化合物层中的一种。

10.根据权利要求4所述的全光谱反射膜,其特征在于,所述基膜的厚度为20μm-200μm,所述基膜的透光率大于等于80%。

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