[实用新型]一种用于检测IPS液晶屏银浆导通测试装置有效

专利信息
申请号: 202021564821.5 申请日: 2020-07-31
公开(公告)号: CN213025330U 公开(公告)日: 2021-04-20
发明(设计)人: 肖卿侠;罗教平 申请(专利权)人: 深圳市天正达电子股份有限公司
主分类号: G09G3/00 分类号: G09G3/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518126 广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 用于 检测 ips 液晶屏 银浆导通 测试 装置
【说明书】:

实用新型公开了一种用于检测IPS液晶屏银浆导通测试装置,包括测试板,测试板上设置有IPS液晶屏,IPS液晶屏的底端连接有驱动IC,驱动IC远离IPS液晶屏的一端连接FPC,FPC的底端连接有转接板,转接板的一侧通过电源线连接有电源模块,电源模块远离转接板的一侧连接有发光二极管,发光二极管的一端通过电源线连接有检测表笔,IPS液晶屏的底部一侧设置有点银浆。有益效果:通过检测电路及检测表笔,可快速检测IPS液晶屏上银浆是否将ITO屏蔽地层与FPC地层导通,从而有效提高产品的可靠性及生产效率,保证了IPS液晶屏的质量。

技术领域

本实用新型涉及显示屏检测设备技术领域,具体来说,涉及一种用于检测IPS液晶屏银浆导通测试装置。

背景技术

目前基于IPS技术的显示屏为了防止生产和使用过程中产生的静电问题, IPS显示屏在上玻璃基板表面会镀一层ITO薄膜,IPS显示屏模组驱动芯片的地会与ITO屏蔽地层通过导电材料连接起来,IPS显示屏模组驱动芯片的地又和FPC上的地是连接在一起的。为了使ITO上的屏蔽地层与驱动芯片上的地连通,在液晶模组的制造中,前段一般采用点银浆工艺以达到该目的,且产品需要100%进行银浆测试,传统的测试装置结构复杂,需要专业人员操作才可完成检测作业。

针对相关技术中的问题,目前尚未提出有效的解决方案。

实用新型内容

针对相关技术中的问题,本实用新型提出一种用于检测IPS液晶屏银浆导通测试装置,以克服现有相关技术所存在的上述技术问题。

为此,本实用新型采用的具体技术方案如下:

一种用于检测IPS液晶屏银浆导通测试装置,包括测试板,测试板上设置有IPS液晶屏,IPS液晶屏的底端连接有驱动IC,驱动IC远离IPS液晶屏的一端连接FPC,FPC的底端连接有转接板,转接板的一侧通过电源线连接有电源模块,电源模块远离转接板的一侧连接有发光二极管,发光二极管的一端通过电源线连接有检测表笔,IPS液晶屏的底部一侧设置有点银浆。

进一步的,IPS液晶屏包括下基板,下基板的顶端设置有液晶层,液晶层的顶端设置有遮光片,遮光片的顶端设置有上基板。

进一步的,为了起到稳固结构、保护元器件的作用,在一定程度上延长该装置的使用寿命,测试板上且位于IPS液晶屏的两侧对称设置有滑槽,滑槽内均设置有滑块,滑块上设置有旋钮,滑块朝向IPS液晶屏的一侧均设置有固定板,测试板上且位于滑槽的下方设置与若干卡槽。

进一步的,为了降压电路功耗小、效率高,能够将40V以下的输入电压稳定输出到5V,电源模块的内部设置有降压电路和稳压电路,降压电路包括芯片U1、开关S1、接口JK1、电容C1、电容C2、电容C3、电容C4、电容 C5、二极管D1、二极管D2、电感L1及电阻R1;芯片U1上设置有引脚1、引脚2、引脚3、引脚4、引脚5及引脚6;接口JK1的一端和开关S1连接,接口JK1的另一端接地,开关S1的另一端分别与电容C1和电容C2及引脚1 连接,电容C1与电容C2的另一端均接地,引脚2分别与二极管D1和电感 L1的一端连接,电感L1的另一端分别与电容C3和电容C4连接,电容C3的另一端与电容C4连接,二极管D1的另一端分别与引脚3和引脚6连接,电容C4的一端与电阻R1,电容C4的另一端二极管D2连接,电阻R1的另一端与电容C5连接,电容C5的另一端与二极管D2的另一端连接,引脚4与电感L1的一端连接,引脚5接地。

进一步的,为了提高该测试装置工作时的可靠性,稳压电路包括芯片U2、电容C6及电容C7,芯片U2上设置有引脚7、引脚8及引脚9;引脚7接地,引脚9与引脚2连接,电容C6的一端和电容C7的一端连接,电容C6和电容 C7的另一端均接地。

本实用新型的有益效果为:

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