[实用新型]一种用于检测IPS液晶屏银浆导通测试装置有效
| 申请号: | 202021564821.5 | 申请日: | 2020-07-31 |
| 公开(公告)号: | CN213025330U | 公开(公告)日: | 2021-04-20 |
| 发明(设计)人: | 肖卿侠;罗教平 | 申请(专利权)人: | 深圳市天正达电子股份有限公司 |
| 主分类号: | G09G3/00 | 分类号: | G09G3/00 |
| 代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
| 地址: | 518126 广东省深圳市*** | 国省代码: | 广东;44 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 用于 检测 ips 液晶屏 银浆导通 测试 装置 | ||
1.一种用于检测IPS液晶屏银浆导通测试装置,其特征在于,包括测试板(1),所述测试板(1)上设置有IPS液晶屏(2),所述IPS液晶屏(2)的底端连接有驱动IC(3),所述驱动IC(3)远离所述IPS液晶屏(2)的一端连接FPC(4),所述FPC(4)的底端连接有转接板(5),所述转接板(5)的一侧通过电源线连接有电源模块(6),所述电源模块(6)远离所述转接板(5)的一侧连接有发光二极管(7),所述发光二极管(7)的一端通过电源线连接有检测表笔(8),所述IPS液晶屏(2)的底部一侧设置有点银浆(9)。
2.根据权利要求1所述的一种用于检测IPS液晶屏银浆导通测试装置,其特征在于,所述IPS液晶屏(2)包括下基板(201),所述下基板(201)的顶端设置有液晶层(202),所述液晶层(202)的顶端设置有遮光片(203),所述遮光片(203)的顶端设置有上基板(204)。
3.根据权利要求1所述的一种用于检测IPS液晶屏银浆导通测试装置,其特征在于,所述测试板(1)上且位于所述IPS液晶屏(2)的两侧对称设置有滑槽(10),所述滑槽(10)内均设置有滑块(11),所述滑块(11)上设置有旋钮(12),所述滑块(11)朝向所述IPS液晶屏(2)的一侧均设置有固定板(13)。
4.根据权利要求3所述的一种用于检测IPS液晶屏银浆导通测试装置,其特征在于,所述测试板(1)上且位于所述滑槽(10)的下方设置与若干卡槽(14)。
5.根据权利要求1所述的一种用于检测IPS液晶屏银浆导通测试装置,其特征在于,所述电源模块(6)的内部设置有降压电路和稳压电路。
6.根据权利要求5所述的一种用于检测IPS液晶屏银浆导通测试装置,其特征在于,所述降压电路包括芯片U1、开关S1、接口JK1、电容C1、电容C2、电容C3、电容C4、电容C5、二极管D1、二极管D2、电感L1及电阻R1;
所述芯片U1上设置有引脚1、引脚2、引脚3、引脚4、引脚5及引脚6;
其中,所述接口JK1的一端和所述开关S1连接,所述接口JK1的另一端接地,所述开关S1的另一端分别与所述电容C1和所述电容C2及所述引脚1连接,所述电容C1与所述电容C2的另一端均接地,所述引脚2分别与所述二极管D1和所述电感L1的一端连接,所述电感L1的另一端分别与所述电容C3和所述电容C4连接,所述电容C3的另一端与所述电容C4连接,所述二极管D1的另一端分别与所述引脚3和所述引脚6连接,所述电容C4的一端与所述电阻R1,所述电容C4的另一端与所述二极管D2连接,所述电阻R1的另一端与所述电容C5连接,所述电容C5的另一端与所述二极管D2的另一端连接,所述引脚4与所述电感L1的一端连接,所述引脚5接地。
7.根据权利要求6所述的一种用于检测IPS液晶屏银浆导通测试装置,其特征在于,所述稳压电路包括芯片U2、电容C6及电容C7,所述芯片U2上设置有引脚7、引脚8及引脚9;
其中,所述引脚7接地,所述引脚9与所述引脚2连接,所述电容C6的一端和所述电容C7的一端连接,所述电容C6和所述电容C7的另一端均接地。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市天正达电子股份有限公司,未经深圳市天正达电子股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202021564821.5/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种改进型设备静电防护装置
- 下一篇:指纹密码锁





