[实用新型]用于发光器件的多功能测试装置

说明书

本实用新型公开一种用于发光器件的多功能测试装置，包括机架、安装于机架的基板上的测试座、驱动机构和测试探头，所述驱动机构进一步包括X轴组件、Y轴组件和Z轴组件，所述X轴组件安装于基板上表面，所述Y轴组件安装于X轴组件上，所述Z轴组件的支撑板安装于Y轴组件上，所述支撑板上设置有一Z轴丝杆，此Z轴丝杆一端连接有一用于驱动Z轴丝杆旋转的Z轴电机，所述Z轴丝杆上套装有一螺母，两个所述测试探头中的一个通过转接板与螺母连接，此测试探头可随螺母在Z轴方向移动，两个所述测试探头中的另一个安装于支撑板上。本实用新型既可以对器件进行光谱测试，又可以进行电流‑功率曲线扫描，提高了测试的效率。

技术领域

本实用新型涉及一种用于发光器件的多功能测试装置，属于光通讯测试技术领域。

背景技术

目前光通信器件包括光模块及光器件，一般光模块需要进行调试校准及性能测试，光器件需要进行性能测试；现有的光模块及光器件的调测方法在实际的生产过程中，流程复杂，多台测试仪器难以对多个光模块、光器件并行测试；测试效率低，设备利用率小，测试时间长。上述内容仅用于辅助理解本实用新型的技术方案，并不代表承认上述内容是现有技术。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种用于发光器件的多功能测试装置，该用于发光器件的多功能测试装置既可以对器件进行光谱测试，又可以进行电流-功率曲线扫描，提高了测试的效率。

为达到上述目的，本实用新型采用的技术方案是：一种用于发光器件的多功能测试装置，包括机架、安装于机架的基板上的测试座、驱动机构和测试探头，所述驱动机构安装于基板上，所述测试探头可移动地安装于驱动机构上，并位于测试座上方；

所述驱动机构进一步包括X轴组件、Y轴组件和Z轴组件，所述X轴组件安装于基板上表面，所述Y轴组件可移动地安装于X轴组件上，并可沿X轴方向往复运动，所述Z轴组件的支撑板可移动地安装于Y轴组件上，使得Z轴组件可沿Y轴方向往复运动；

所述支撑板上设置有一Z轴丝杆，此Z轴丝杆一端连接有一用于驱动Z轴丝杆旋转的Z轴电机，所述Z轴丝杆上套装有一螺母，两个所述测试探头中的一个通过转接板与螺母连接，此测试探头可随螺母在Z轴方向移动，两个所述测试探头中的另一个安装于支撑板上。

上述技术方案中进一步改进的方案如下：

1. 上述方案中，两个所述测试探头中与螺母连接的测试探头为光谱扫描探头。

2. 上述方案中，所述测试座一侧还设置有一转接座，此转接座上具有一PCB板和与PCB板电连接的第一连接器，此PCB板设置有第二连接器。

3. 上述方案中，所述转接板上设置有若干个调节孔。

4. 上述方案中，所述第一连接器一端与PCB板连接，另一端用于与设置于测试座上的夹具电连接。

由于上述技术方案的运用，本实用新型与现有技术相比具有下列优点：

本实用新型用于发光器件的多功能测试装置，其通过在驱动机构上安装两个测试探头，既可以对器件进行光谱测试，又可以进行电流-功率曲线扫描，提高了测试的效率，而两个探头一个通过电机上下调节、一个相对固定，则可以对两个探头之间的相对位置进行调节，进一步保证了不同探头的测试精度。

附图说明

附图1为本实用新型用于发光器件的多功能测试装置结构示意图；

附图2为本实用新型用于发光器件的多功能测试装置结构局部结构示意图；

附图3为本实用新型转接座结构示意图；

附图4为本实用新型Z轴组件的结构示意图。