[实用新型]干扰抑制用X电容装置及使用该X电容装置的电气设备有效

专利信息
申请号: 202021103572.X 申请日: 2020-06-12
公开(公告)号: CN212322838U 公开(公告)日: 2021-01-08
发明(设计)人: 郑凌波;周勇 申请(专利权)人: 深圳市力生美半导体股份有限公司
主分类号: H01G4/224 分类号: H01G4/224;H01G4/228;H01G4/40
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518000 广东省深圳*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 干扰 抑制 电容 装置 使用 电气设备
【权利要求书】:

1.一种干扰抑制用X电容装置,其特征在于,包括:

X电容主体(10),由所述X电容主体(10)的电极连接出多个延伸引脚(11,12);

自泄放电路组件(20),与所述延伸引脚(11,12)短接;

封胶体(30),密封所述X电容主体(10)与所述自泄放电路组件(20),所述封胶体(30)还密封所述延伸引脚(11,12)与所述自泄放电路组件(20)的短接点(13),所述延伸引脚(11,12)外露于所述封胶体(30)。

2.根据权利要求1所述的干扰抑制用X电容装置,其特征在于,所述自泄放电路组件(20)包括内置电路板(21)、设置于所述内置电路板(21)上的并联电阻(22)、设置于所述内置电路板(21)上并与所述并联电阻(22)串联的控制器芯片装置(23),在所述内置电路板(21)内形成有泄放电路(24),所述泄放电路(24)的短接端点(25)位于所述内置电路板(21)的两侧,供所述延伸引脚(11,12)的短接。

3.根据权利要求2所述的干扰抑制用X电容装置,其特征在于,所述短接端点(25)的形状是环形焊盘,所述延伸引脚(11,12)穿入所述短接端点(25)的部位与所述短接端点(25)焊接;所述内置电路板(21)用于安装所述并联电阻(22)与所述控制器芯片装置(23)的表面背向所述X电容主体(10)。

4.根据权利要求2所述的干扰抑制用X电容装置,其特征在于,所述延伸引脚(11,12)的数量只有两个,所述并联电阻(22)的电阻并联数量是大于等于2。

5.根据权利要求2所述的干扰抑制用X电容装置,其特征在于,所述并联电阻(22)为多组配置在所述控制器芯片装置(23)的两侧,所述泄放电路(24)包括用于连接所述控制器芯片装置(23)与所述并联电阻(22)的内汇集桥(26),所述控制器芯片装置(23)的一侧芯片接点(23A)与对应组所述并联电阻(22)的内侧电阻接点(22A)都位于所述内汇集桥(26)上。

6.根据权利要求5所述的干扰抑制用X电容装置,其特征在于,所述泄放电路(24)还包括用于连接所述并联电阻(22)与所述短接端点(25)的外汇集桥(27),对应组所述并联电阻(22)的外侧电阻接点(22B)与所述短接端点(25)都位于所述外汇集桥(27)上;所述控制器芯片装置(23)具有一次封装结构,所述封胶体(30)为二次封装结构,还密封所述控制器芯片装置(23)。

7.根据权利要求1所述的干扰抑制用X电容装置,其特征在于,还包括:电容器外壳(40),所述X电容主体(10)安装在所述电容器外壳(40)内,所述封胶体(30)灌注形成在所述电容器外壳(40)内。

8.根据权利要求7所述的干扰抑制用X电容装置,其特征在于,所述X电容主体(10)的表面形成有真空浸渍层(14);具体地,所述X电容主体(10)由金属化聚丙烯薄膜卷收成卷所形成。

9.根据权利要求1-8中任一项所述的干扰抑制用X电容装置,其特征在于,当所述干扰抑制用X电容装置安装在外部印刷电路板,电源切断时,由所述X电容主体(10)至所述自泄放电路组件(20)自动形成所述干扰抑制用X电容装置内的自体电量泄放。

10.一种电气设备,其特征在于,包括如权利要求1-9中任一项所述的干扰抑制用X电容装置。

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