[实用新型]一种金刚石导电性能测试随行支架有效

专利信息
申请号: 202020954856.3 申请日: 2020-05-30
公开(公告)号: CN212514813U 公开(公告)日: 2021-02-09
发明(设计)人: 梅景红 申请(专利权)人: 内蒙古民族大学
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G01R1/04
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 028000 内蒙*** 国省代码: 内蒙古;15
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摘要:
搜索关键词: 一种 金刚石 导电 性能 测试 随行 支架
【说明书】:

一种金刚石导电性能测试随行支架,其特点是,金刚石导电性能测试随行支架有一个外环,在外环底部安装一个底板,底板中心开有一个圆孔,在底板上盖有压板,一个内环通过螺纹旋入外环压在压板上。压板的中心开有一个上大下小的锥形圆孔,以锥形圆孔圆心为对称中心开有一个十字槽,使锥形圆孔的边缘形成四个压舌,在压板的边缘对称向上折出两个吊耳。本实用新型的有益效果是,本实用新型用于金刚石导电性能测试,将其和金刚石样本固定成为一体,延伸了金刚石样本的体积,在对金刚石表面镀金属膜及光刻时,可以将本实用新型直接固定在电镀或光刻设备上,本实用新型结构简单,操作方便,且金刚石样本不易丢失。

技术领域

本实用新型涉及一种物理实验装置,尤其是用于金刚石导电性能测试的一种金刚石导电性能测试随行支架。

背景技术

在进行金刚石导电性能测试时,需要在金刚石样本表面镀金属膜、光刻、连接电极等操作,因金刚石样本尺寸比较小,常常不足1毫米,需要在显微镜下用镊子操作,金刚石样本表面又硬又滑,用镊子操作时有时会滑脱,甚至丢失。

发明内容

为解决上述的问题,本实用新型提供一种金刚石导电性能测试随行支架,使用这种金刚石导电性能测试随行支架可延伸金刚石样本的体积,在对金刚石表面镀金属膜及光刻时方便操作。

本实用新型解决技术问题所采用的技术方案是:发明一种金刚石导电性能测试随行支架,其特点是,金刚石导电性能测试随行支架有一个外环,在外环底部安装一个底板,底板中心开有一个圆孔,在底板上盖有压板,一个内环通过螺纹旋入外环压在压板上。

压板的中心开有一个上大下小的锥形圆孔,以锥形圆孔圆心为对称中心开有一个十字槽,使锥形圆孔的边缘形成四个压舌,在压板的边缘对称向上折出两个吊耳。

本实用新型的有益效果是,本实用新型用于金刚石导电性能测试,将其和金刚石样本固定成为一体,延伸了金刚石样本的体积,在对金刚石表面镀金属膜及光刻时,可以将本实用新型直接固定在电镀或光刻设备上,本实用新型结构简单,操作方便,且金刚石样本不易丢失。

附图说明

下面结合附图和实施例对本实用新型进一步说明。

附图1是本实施例的主视图,附图2是本实施例的左视图,图3是金刚石的示意图。

图中1外环,2金刚石样本,3内环,4底板,5压板,6吊耳,7压舌,8尖端,9锥面,10锥面交线,11冠面。

具体实施方式

如附图1、附图2所示,本实用新型有一个外环1,在外环1底部安装一个底板4,底板4中心开有一个圆孔,金刚石样本2的尖端8放入圆孔内,在金刚石样本2上端盖有压板5,一个内环3通过螺纹旋入外环1压在压板5上,压板5的中心开有一个上大下小的锥形圆孔,以锥形圆孔圆心为对称中心开有一个十字槽,使锥形圆孔的边缘形成四个压舌7,在压板5的边缘对称向上折出两个吊耳6。

如附图1和附图2所示,使用时,将外环1底部朝下水平放置在桌面上,一只手捏住外环1,另一只手将内环3旋下,用摄子夹住吊耳6将压板5从外环1内提出,在显微镜下用摄子将需要测试的金刚石样本2的尖端放入底板4的圆孔内,再用摄子夹住吊耳6将压板5放入外环1内,使四个压舌7压住金刚石样本2的冠面11的边缘,将内环3旋入外环1,使内环3将压板5压牢,压板5上的压舌7将金刚石样本2牢固地固定在底板4的圆孔上。

在进行金刚石导电性能测试时,一般需要在金刚石样本2的冠面11上镀上金属镀膜,然后通过光刻的方法在金属镀膜上刻出十字豁口,将金属镀膜分成四块,在每块金属镀膜上连接导线,通过导线测量金刚石样本2在不同温度下的导电率。

本实用新型和金刚石样本2固定成为一体,使金刚石样本2的体积得到了延伸,在对金刚石表面镀金属膜及光刻时,可以将本实用新型直接固定在电镀设备或光刻设备上。光刻时激光可通过压板5中心开出的十字槽在金刚石样本2的金属镀膜上刻出十字豁口。

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