[实用新型]一种防热插拔测试治具

说明书

本实用新型公开一种防热插拔测试治具，包括：上料载板、设于所述上料载板一端的测试连接器和第一开关，所述第一开关可移至第一位置状态和第二位置状态，所述第一开关处于所述第一位置状态时直接或间接对所述测试连接器形成阻挡，使得测试连接器无法打开；所述第一开关处于所述第二位置状态时对所述测试连接器失去阻挡；所述上料载板上还设有一第二开关，当所述第一开关移至所述第一位置状态时，所述第二开关对所述第一开关形成锁定；当所述第二开关对所述第一开关解除锁定时，所述第一开关可移至所述第二位置状态。本实用新型的一种防热插拔测试治具，有效保证了生产测试过程中不会产生热插拔，同时又保证了测试的完整执行。

技术领域

本实用新型涉及LCM生产技术领域，尤其涉及一种防热插拔测试治具。

背景技术

LCM生产及测试中，产品在扣接上FPC及上电后，进行测试过程中禁止产品FPC与测试连接器或转接FPC断开连接。这种带电中断叫热插拔，对产品有很大损伤，甚至导致EOS事件，严重影响产品的良品率。现有的防热插拔设计，有的通过软件实现防热插拔，其原理为：在发生人为热插拨时，测试主板强制报警并计时锁死状态，此方式有效保护了产品，但一定程度上降低了生产效率；有的设备设有外置防热插拔开关，热插拔时外置防热插拔开关先被触发，测式程序即时终止断电，保护了产品不会在热插拔中产生损害，但却不能确保测试过程会被完整执行，不良品可能从中被放行，造成客户端不良品较高。

实用新型内容

针对现有技术存在的问题，本实用新型的主要目的是提供一种防热插拔测试治具，其有效保证了生产测试过程中不会产生热插拔，同时又保证了测试的完整执行。

本实用新型的技术方案如下：本实用新型提供了一种防热插拔测试治具，包括：上料载板、设于所述上料载板一端的测试连接器和第一开关，所述第一开关可移至第一位置状态和第二位置状态，所述第一开关处于所述第一位置状态时直接或间接对所述测试连接器形成阻挡，使得所述测试连接器无法打开；所述第一开关处于所述第二位置状态时对所述测试连接器失去阻挡；所述上料载板上还设有一第二开关，当所述第一开关移至所述第一位置状态时，所述第二开关对所述第一开关形成锁定；当所述第二开关对所述第一开关解除锁定时，所述第一开关可移至所述第二位置状态所述上料载板。

进一步地，所述第一开关直接阻挡所述测试连接器，所述第一开关位于所述第一位置状态时，所述第一开关的活动端位于所述测试连接器一端的上方。

进一步地，所述第一开关间接阻挡所述测试连接器时，所述防热插拔测试治具还包括一第三开关，所述第三开关作用于所述测试连接器，使所述测试连接器锁定或打开，所述第一开关处于所述第一位置状态时对所述第三开关形成遮挡。

进一步地，所述第二开关为一电磁阀，安装于所述上料载板的背面，所述第一开关移至于所述第一位置状态时，所述电磁阀的销轴穿过所述上料载板插入所述第一开关的插孔内，对所述第一开关形成锁定；所述电磁阀的销轴退出所述第一开关的插孔时，对所述第一开关解除锁定，所述第一开关可移至所述第二位置状态。

进一步地，所述第一开关设有一回位弹簧，所述电磁阀的销轴退出所述第一开关的插孔后，所述第一开关在所述回位弹簧作用下由第一位置状态转至所述第二位置状态。

进一步地，所述第一开关为一锁转开关，所述锁转开关通过一转轴安装于所述上料载板上，所述锁转开关可绕所述转轴水平旋转，以到达所述第一位置状态或所述第二位置状态。

进一步地，所述第一开关为一推拉开关，所述推拉开关底部设有滑块，所述上料载板上对应设有滑轨，所述滑块卡设于所述滑轨上，所述推拉开关沿所述滑轨滑动，以到达所述第一位置状态或所述第二位置状态。

进一步地，所述测试连接器包括：上盖和下板，所述下板安装于所述上料载板上，所述上盖和所述下板闭合后的型腔内形成所述测试连接器的连接部，所述连接部用于连接测试产品的FPC，所述上盖一侧边转动连接于所述下板的一侧边。