[实用新型]一种差动光通量电桥法测量带材微位移的装置

权利要求书

1.一种差动光通量电桥法测量带材微位移的装置，其特征在于：主要包括光源、透镜组、待测对象、电桥光电测量电路；透镜组包括第一透镜和第二透镜，待测对象为带材，带材置于第一透镜和第二透镜之间，光源发出的光束，经过第一透镜汇聚成平行光束后，再经第二透镜汇聚入射到电桥光电测量电路的光敏电阻上，经第一透镜出射的光束一部分被带材阻挡，另一部分直接入射到第二透镜，电桥光电测量电路的输出端通过转换放大器与外部计算机连接。

2.根据权利要求1所述的一种差动光通量电桥法测量带材微位移的装置，其特征在于：所述的电桥光电测量电路包括第一光敏电阻R1、第二光敏电阻R2、电阻R3、电阻R4、电阻R5、电阻R7、电阻R8和转换放大器，来自第二透镜出射的光束照射到第一光敏电阻R1上，第二光敏电阻R2完全被遮光罩遮挡，由第一光敏电阻R1、第二光敏电阻R2、电阻R3、电阻R4构成桥式电路，第一光敏电阻R1和电阻R3串联后分别接电源电压和地，第二光敏电阻R2和电阻R4串联后分别接电源电压和地，第一光敏电阻R1和电阻R2之间引出经电阻R5后连接到放大器的反相输入端，第二光敏电阻R2和电阻R4之间引出经电阻R6后连接到放大器的正相输入端，转换放大器的正相输入端经电阻R6后接地，放大器的反相输入端经电阻R8和输出端连接，将放大器的输出端输出电压发送到Arduino板，最后Arduino板接入计算机。

3.根据权利要求1所述的一种差动光通量电桥法测量带材微位移的装置，其特征在于：所述的带材为不透光的物件。

4.根据权利要求1所述的一种差动光通量电桥法测量带材微位移的装置，其特征在于：所述的带材沿垂直于光轴方向靠近/远离光轴地移动。

5.根据权利要求1所述的一种差动光通量电桥法测量带材微位移的装置，其特征在于：所述的光源、透镜组和电桥光电测量电路的光敏电阻R1同光轴布置。

6.根据权利要求1所述的一种差动光通量电桥法测量带材微位移的装置，其特征在于：所述的光敏电阻R2为遮光光敏电阻。