[实用新型]一种探测连接器

说明书

本实用新型公开了一种探测连接器，其与同轴电缆的前端电性连接，且与检查对象配合，包括：第一导电筒体，所述同轴电缆固定于所述第一导电筒体的侧壁上，所述第一导电筒体与所述同轴电缆的屏蔽层电性连接；第一筒盖，与所述第一导电筒体盖合；第一绝缘体，与所述第一导电筒体的内孔固定连接；探针，与所述第一绝缘体固定连接，所述探针的顶部设有凹槽；导电针体，所述导电针体的一端与所述探针的凹槽过盈配合，所述导电针体设有针孔，所述同轴电缆的中心导体插入所述针孔并与所述导电针体焊接。与现有技术相比，通过导电针体的一端与所述探针的凹槽过盈配合，这样代替了焊接，不会出现焊点，这样不会出现同轴电缆的中心导体的直径增大。

技术领域

本实用新型涉及同轴探针测试技术领域，特别是涉及一种的探测连接器。

背景技术

现有技术1(CN101164205B)公开了一种同轴连接器及测定用同轴探针，在安装到测试测试夹具后对被检测对象的测试座进行检查。其说明书第【0040】段记载，将同轴电缆的中心导体从第二套筒的开口部及罩壳的开口部插入而焊接在柱塞套的槽部中。这样中心导体就会穿过柱塞套及螺旋弹簧而形成与柱塞电导通的状态。

不足之处是：将同轴电缆的中心导体与柱塞套焊接在一起的焊点增大了同轴电缆的中心导体的直径，使阻抗失配，高频性能指标差，降低探测精度。

实用新型内容

本实用新型的目的是提出一种探测连接器，利用导电针体，使阻抗匹配，高频性能指标好，保持高的探测精度。

为了实现上述目的，本实用新型采取的技术方案是：

一种探测连接器，其与同轴电缆的前端电性连接，且与检查对象配合，包括：

第一导电筒体，所述同轴电缆固定于所述第一导电筒体的侧壁上，所述第一导电筒体与所述同轴电缆的屏蔽层电性连接；

第一筒盖，与所述第一导电筒体盖合；

第一绝缘体，与所述第一导电筒体的内孔固定连接；

探针，与所述第一绝缘体固定连接，所述探针的顶部设有凹槽；

导电针体，所述导电针体的一端与所述探针的凹槽过盈配合，所述导电针体设有针孔，所述同轴电缆的中心导体插入所述针孔并与所述导电针体焊接。

优选地，还包括第二导电筒体和第二绝缘体，所述第一导电筒体的侧壁设有接口，所述接口与所述第一导电筒体的内孔连通，所述第二导电筒体与所述接口连接，所述第二导电筒体与所述第一导电筒体接触，所述第二导电筒体的内孔与所述接口连通，所述同轴电缆的屏蔽层与所述第二导电筒体的内孔壁接触，所述第二绝缘体的侧面与所述第二导电筒体的内孔壁固定连接，所述同轴电缆的中心导体与所述第二绝缘体的内孔固定连接。

优选地，所述探针包括针筒、第一弹性件和中心探测导体，所述针筒与所述第一绝缘体的内孔固定连接，所述针筒与所述中心探测导体配合构成滑动副，所述针筒的内壁面与所述中心探测导体接触，所述第一弹性件的一端与所述针筒的内孔壁固定连接，所述第一弹性件的另一端与所述中心探测导体固定连接。

优选地，还包括第三导电筒体和第三绝缘体，所述第三导电筒体的外周面与所述第一导电筒体的内孔套接，所述第三绝缘体的侧面与所述第三导电筒体的内孔固定连接，所述第三导电筒体的内孔与所述中心探测导体固定连接。

优选地，还包括第一套筒和第二套筒，所述第一套筒的内孔与所述第一导电筒体的外周面配合构成滑动副，所述第一套筒的外周面与所述第二套筒的内孔套接，所述第三导电筒体与所述第二套筒的内孔配合构成滑动副。

优选地，所述第三导电筒体设有限位肩部，所述第一套筒的内孔设有限位台阶，所述限位肩部与所述限位台阶配合。