[实用新型]光学模组的测量装置有效
申请号: | 202020122585.5 | 申请日: | 2020-01-19 |
公开(公告)号: | CN211576082U | 公开(公告)日: | 2020-09-25 |
发明(设计)人: | 邓海军 | 申请(专利权)人: | 南昌欧菲晶润科技有限公司 |
主分类号: | G01B11/00 | 分类号: | G01B11/00 |
代理公司: | 北京景闻知识产权代理有限公司 11742 | 代理人: | 贾玉姣 |
地址: | 330000 江西省南昌市南昌高新技*** | 国省代码: | 江西;36 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光学 模组 测量 装置 | ||
本实用新型公开了一种光学模组的测量装置,所述光学模组的测量装置包括:底座和装夹件,底座具有第一锁紧部,装夹件包括:装夹平台、旋转轴部和第二锁紧部,装夹平台具有容纳部,旋转轴部与装夹平台连接,以带动装夹平台在多个转动位置之间可切换并可停留在其中任一个转动位置,第二锁紧部与装夹平台连接,第二锁紧部与第一锁紧部被构造成在至少两个转动位置相适配以将装夹平台锁紧于底座。这样,通过设有第一锁紧部和第二锁紧部相配合,使测量装置形成相互切换的使用状态,分别测量镜头的水平尺寸和竖直尺寸,从而拓展了测量装置的使用范围。同时,至少进行自由的相互切换的第一使用状态和第二使用状态让光学模组的测量与使用变得简单。
技术领域
本实用新型涉及光学测量技术领域,尤其是涉及一种光学模组的测量装置。
背景技术
光学模组的尺寸需要使用专业的测量治具测量,现有的光学测量治具由于测量治具和治具底座一体成型或测量治具固定在治具底座上,使得现有的光学测量治具只能测量一个平面内的尺寸,相对使用效率较为低下且使用多个光学测量治具成本较高。
实用新型内容
本实用新型旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此,本实用新型的一个目的在于提出一种光学模组的测量装置,旨在解决测量光学模组的多个方向上的尺寸时需要使用多个光学测量治具,测量效率相对较低的问题。
根据本实用新型实施例的光学模组的测量装置,包括:底座和装夹件,底座具有第一锁紧部,装夹件包括:装夹平台、旋转轴部和第二锁紧部,装夹平台具有容纳部,容纳部用于装夹固定光学模组,旋转轴部与装夹平台连接,以带动装夹平台在多个转动位置之间可切换并可停留在其中任一个转动位置,第二锁紧部与装夹平台连接,第二锁紧部与第一锁紧部被构造成在至少两个转动位置相适配以将装夹平台锁紧于底座。
这样,通过设有第一锁紧部和第二锁紧部相配合,使得测量装置能够形成相互切换的第一使用状态和第二使用状态,在第一使用状态和第二使用状态能够分别测量镜头的平行于测量装置的感光面的尺寸和垂直于测量装置的感光面的尺寸,进而拓展了测量装置的使用范围,同时,能够至少进行自由的相互切换的第一使用状态和第二使用状态让光学模组的测量与使用变得简单。
在一些实施例中,第一锁紧部和第二锁紧部以磁性吸合、真空吸合或卡接等方式相适配。因此,使用可拆装的连接方式让第一锁紧部和第二锁紧部进行连接,使得测量装置不仅在第一使用状态和第二使用状态能够得到固定,而且第一使用状态和第二使用状态之间能够进行相互之间的切换,从而使测量装置能够测量光学模组处于第一使用状态和第二使用状态下的平行于测量装置的感光面上和垂直于测量装置的感光面上的尺寸。
在一些实施例中,第一锁紧部和第二锁紧部以磁性吸合方式相适配,第一锁紧部包括:第一磁铁和第二磁铁,第二锁紧部包括第一磁吸件和第二磁吸件,第一磁铁和第一磁吸件在装夹平台旋转至平行于底座的转动位置时磁性吸合;第二磁铁和第二磁吸件在装夹平台旋转至容纳部平行于底座时磁性吸合;第二磁铁和第二磁吸件在装夹平台旋转至容纳部竖直于底座时磁性吸合。这样,第一磁铁与第一磁吸件磁连接形成测量装置的第一使用状态,第一使用状态下,装夹平台与底座平行,测量装置的第一使用状态能够测量光学模组的平行于测量装置的感光面上的尺寸,第二磁铁与第二磁吸件磁连接形成测量装置的第二使用状态,第二使用状态下,装夹平台与底座相互竖直,测量装置的第二使用状态能够测量光学模组的垂直于测量装置的感光面上的尺寸。
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