[实用新型]一种自由曲面检测系统有效
申请号: | 202020076811.0 | 申请日: | 2020-01-14 |
公开(公告)号: | CN211784203U | 公开(公告)日: | 2020-10-27 |
发明(设计)人: | 廖文亮 | 申请(专利权)人: | 苏州亮宇光学科技有限公司 |
主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02 |
代理公司: | 北京同恒源知识产权代理有限公司 11275 | 代理人: | 阴知见 |
地址: | 215000 江苏省苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 自由 曲面 检测 系统 | ||
本实用新型公开了一种自由曲面检测系统,其涉及光学面检测技术领域。旨在解决现有透明光学产品采用有损检测方式只能抽样检测,不能全检,而且成本高,效率低的问题。其技术方案要点包括光源发射端和光源接收端,以及用于承载产品的容器;所述容器内设置有液体,且其内底壁设置有吸光装置。本实用新型属于无损处理检测,检测完成后透明光学产品还可以继续使用,可以对产品进行抽样检测或者全检测,而且成本低,效率高。
技术领域
本实用新型涉及光学面检测技术领域,更具体地说,它涉及一种自由曲面检测系统。
背景技术
随着设计方法和加工技术提高,自由曲面在光学领域应用的逐步增加,对自由曲面的检测需求也逐步提高。
目前对自由曲面检测可以分为接触检测和非接触检测,对镜面光学表面采用非接触检测。
现有的非接触检测仪器,对不透明光学产品表面比较容易进行测量,但是对于透明光学产品(例如:塑料、玻璃及硅胶等光学产品),则无法直接进行测量。如图1所述,光源发射端1将光线1发射至透明光学产品3的待检测自由曲面,光线1反射形成光线2至光线接收端2,同时光线1折射形成光线3,光线3反射形成光线4,光线4折射形成光线5至光线接收端2,光线5对测量结果有干扰,影响测量精度,甚至得出错误结果,所以不能按照上述方式直接进行检测。
为了避免光线5对测量的影响,需要对透明光学产品进行处理。参照图2,目前常见的方法是在透明光学产品3的非检测表面进行喷粉或者涂黑色,形成涂层4,涂层4的目的是吸收光线,则光线1反射形成光线2至光线接收端2,而光线1折射形成的光线3则被涂层4吸收,不再形成光线至光线接收端2,则不会对测量结果造成干扰。
但是,喷粉或者涂黑色后,该产品则不能再使用,属于有损处理检测,这种有损处理检测只能进行抽样检测,不能全检,而且成本高,效率低。
实用新型内容
针对现有技术存在的不足,本实用新型的目的在于提供一种自由曲面检测系统,其属于无损处理检测,检测完成后透明光学产品还可以继续使用,可以对产品进行抽样检测或者全检测,而且成本低,效率高。
为实现上述目的,本实用新型提供了如下技术方案:
一种自由曲面检测系统,包括光源发射端和光源接收端,以及用于承载产品的容器;所述容器内设置有液体,且其内底壁设置有吸光装置。
进一步地,所述吸光装置为吸光片。
进一步地,所述吸光装置为涂覆于所述容器内底壁的吸光层。
进一步地,所述液体为水、酒精或者油。
综上所述,本实用新型具有以下有益效果:
1、不需要对透明光学产品进行有损处理,则检测完成后透明光学产品还可以继续使用,进而不仅可以抽样检测,还可以对透明光学产品进行全检测;
2、成本低、效率高;
3、设备结构简单,易加工;
4、可以检测自由曲面、非球面、球面以及平面等光学面。
附图说明
图1为背景技术中自由曲面检测原理示意图;
图2为背景技术中现有自由曲面检测方法原理示意图;
图3为实施例1中一种自由曲面检测系统的示意图;
图4为实施例2中一种自由曲面检测系统的示意图。
图中:1、光源发射端;2、光源接收端;3、透明光学产品;4、涂层;5、容器;6、吸光片;7、液体;8、吸光层。
具体实施方式
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