[发明专利]固态硬盘坏块查询方法、装置及计算机可读存储介质

说明书

本申请公开了一种固态硬盘坏块查询方法、装置及计算机可读存储介质。其中，方法包括在固态硬盘运行过程中，当检测到存在坏块，基于固态硬盘的nand颗粒参数标注坏块相应的比特位，并将比特位标注结果存储至位图中。当接收到坏块查询指令，根据坏块查询指令中的目标坏块信息查询位图，得到目标坏块的查询结果，本申请可以高效、准确地查询坏块信息，提升SSD性能。

技术领域

本申请涉及计算机技术领域，特别是涉及一种固态硬盘坏块查询方法、装置及计算机可读存储介质。

背景技术

服务器上SSD(SolidStateDisk，固态硬盘)后端存储使用的计算机闪存设备nand颗粒，不同容量的nand颗粒在物理结构上是不同的。一颗nand物理结构可分1个target，2个target，4个target。target为拥有自己片选信号的独立闪存。每个target上又可分为1个LUN (LogicalUnitNumber，逻辑单元号)，2LUN等。每个LUN又可划分为单个单元plane，两个plane等。plane为由一系列物理块组成的单元，plane0由奇数的物理块组成，plane1由偶数的物理课组成。每个 plane又有1048，2096等多个物理块block，每个block又有128，256 等多个页page。

基于NAND Flash生产商的默认约定，相关技术通常采用spare area的第六个byte作为坏块标记。在查询坏块时，需要依次看每个物理块的第六个byte是否标记为坏块。SSD属于大容量存储，其需要多颗nand，如果某个物理块block出现坏块，每颗nand的拓扑物理结构复杂，多颗nand就使得整个物理结构更加复杂，在多种nand颗粒中找到坏块，就需要耗费大量的时间和精力。

随着用户对SSD性能的要求越来越高，如何高效、准确地查询坏块信息，提升SSD性能，是所属领域技术人员需要解决的技术问题。

发明内容

本申请提供了一种固态硬盘坏块查询方法、装置及计算机可读存储介质，可以高效、准确地查询坏块信息，提升SSD性能。

为解决上述技术问题，本发明实施例提供以下技术方案：

本发明实施例一方面提供了一种固态硬盘坏块查询方法，包括：

在固态硬盘运行过程中，当检测到存在坏块，基于所述固态硬盘的nand颗粒参数标注所述坏块相应的比特位，并将比特位标注结果存储至位图中；

当接收到坏块查询指令，根据所述坏块查询指令的目标坏块信息查询所述位图，以得到所述目标坏块的查询结果。

可选的，所述将比特位标注结果存储至位图之后，还包括：

当接收到坏块替换指令，查询所述位图得到待替换坏块的查询结果，并定位所述待替换坏块；

利用所述坏块替换指令中的替换物理块的地址信息替换所述待替换坏块的地址信息，以将写入所述待替换坏块中的数据写入至所述替换物理块。

可选的，所述将比特位标注结果存储至位图之后，还包括：

当接收到SSD更新指令，根据所述位图确定所述固态硬盘的所有坏块的标注比特位；

基于各坏块的标准比特位执行所述SSD更新指令。可选的，所述基于所述固态硬盘的nand颗粒参数标注所述坏块相应的比特位，并将比特位标注结果存储至位图中包括：

根据所述固态硬盘的容量和所述固态硬盘的nand颗粒的参数，将连接各nand颗粒的通道划分为多组；

根据同一组内nand颗粒的参数确定表示物理坏块的比特位数；

根据所述固态硬盘的nand颗粒中的物理块数量计算存储所述比特位标注结果所需字节数；