[发明专利]Flash芯片读取控制方法、装置、存储介质有效

专利信息
申请号: 202011576074.1 申请日: 2020-12-28
公开(公告)号: CN112685802B 公开(公告)日: 2022-07-01
发明(设计)人: 沈有琪;李金亭;刘西富;朱文清 申请(专利权)人: 青岛信芯微电子科技股份有限公司
主分类号: G06F21/78 分类号: G06F21/78;G06F21/45;G06F21/46
代理公司: 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 代理人: 王英
地址: 266100 山*** 国省代码: 山东;37
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摘要:
搜索关键词: flash 芯片 读取 控制 方法 装置 存储 介质
【说明书】:

本申请公开了一种Flash芯片读取控制方法、装置、存储介质。用于解决微控制器芯片中内嵌flash被第三方恶意拷贝的问题。本申请实施例中,针对不同调试工具对芯片的访问,对内嵌flash程序进行不同的读取保护,以及在电磁干扰环境下通过配置参数保证芯片程序不被意外擦除、改写。

技术领域

本申请涉及微控制器芯片技术领域,尤其涉及一种Flash芯片读取控制方法、装置、存储介质。

背景技术

目前微控制器芯片中内嵌存储芯片(flash)作为程序存储介质被广泛使用,随着芯片的开发成本越来越高,芯片程序的安全性以及产品的稳定性也越来越重要,在搭载了芯片的产品生产出来后,第三方厂家可以通过各种调试工具读取内嵌flash里面的程序,并复刻一块产品的印刷电路板,将读取到的程序内容烧录到电路板中并应用到自己产品中,达到克隆产品、节省开发成本的目的,这种行为对产品开发、生产造成了很大的威胁。

发明内容

本申请的目的是提供一种flash芯片读取控制方法、装置、存储介质,用于解决微控制器芯片中内嵌flash被第三方恶意拷贝的问题。

第一方面,本申请实施例提供了一种flash芯片读取控制方法,包括:

针对JTAG调试工具若所述JATG调试工具的JTAG调试信号与所述flash芯片的保护等级信号均有效,则将所述JTAG调试工具的操作权限配置为禁止权限,其中所述禁止权限用于允许所述JTAG调试工具对所述非易失性寄存器扇区进行读取操作,并禁止所述JTAG调试工具对所述主扇区的操作。

若所述JTAG调试信号与所述保护等级信号中至少有一个无效,则将所述JTAG调试工具的操作权限配置为允许权限,其中所述允许权限用于允许所述JTAG调试工具对所述主扇区和所述非易失性寄存器扇区进行操作。

在一些可能的实施例中,若所述JTAG调试工具的操作权限为禁止权限,所述方法还包括:

接收所述JTAG调试工具发送的将所述禁止权限更改为所述允许权限的第一指示信息;

响应所述第一指示信息,将所述主扇区中的信息删除并将所述禁止权限更改为所述允许权限。

在一些可能的实施例中,用于表示所述JTAG调试工具的操作权限的权限参数配置在所述非易失性寄存器扇区内,所述将所述主扇区中的信息删除并将所述禁止权限更改为所述允许权限,包括:

若解擦除保护信号有效,则对所述非易失性寄存器扇区执行擦除操作;

若成功执行所述擦除操作,且确定解写入保护信号有效,则将所述非易失性寄存器扇区内的所述权限参数配置为所述允许权限。

在一些可能的实施例中,若所述JTAG调试工具的操作权限为允许权限,所述方法还包括:

接收所述JTAG调试工具发送的将所述允许权限更改为所述禁止权限的第二指示信息;

响应所述第二指示信息,将所述允许权限更改为所述禁止权限。

在一些可能的实施例中,所述将所述允许权限更改为所述禁止权限,包括:

若解擦除保护信号有效,则对所述非易失性寄存器扇区执行擦除操作。

在一些可能的实施例中,所述方法还包括:

响应所述JTAG调试工具对解擦除保护信号和/或解写入保护信号的配置操作,对相应的信号进行配置。

在一些可能的实施例中,所述控制芯片内置有中央处理器,所述中央处理器关联有缓存单元,所述缓存单元允许所述JTAG调试工具写入缓存地址,若所述控制芯片与所述JTAG调试工具断开连接,则所述缓存地址用于指示所述中央处理器从所述主扇区中读取与所述缓存地址内的信息并存储到所述缓存单元中,所述方法还包括:

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