[发明专利]学校间的学业水平比较方法、装置及电子设备

说明书

本申请实施例公开了一种学校间的学业水平比较方法、装置及电子设备，获取第一学校的第一历史作答数据和第二学校的第二历史作答数据；若第一学校和第二学校之间共同参与联考的联考次数少于预设数值，从第一历史作答数据和第二历史作答数据中选取目标试题，得到目标试题集合；根据目标试题集合生成虚拟联考评估试卷；根据虚拟联考评估试卷比较第一学校和第二学校的学校学业水平，如此，可在不同学校间的共同联考数据较少时，通过生成虚拟联考评估试卷，来评估比较不同学校之间的学业水平。

技术领域

本申请涉及智能教育领域，具体涉及一种学校间的学业水平比较方法、装置及电子设备。

背景技术

目前，针对不同学校间学业水平比较方法较为罕见，现有技术中对不同学校之间的学业水平比较主要有以下方法：第一，对于异校间学业水平比较，分别寻找当地老师或该校老师直接根据其对学校的了解或学生历年重本率等进行学校间差异评估；第二，社会上一些教育机构每年会花大量人力和时间对一些特定的学校学业水平在一些常见指标上进行数据收集，包括基础设施、人才培养、综合声誉、硬件和软件设施、师资力量、社会声誉和高考升学率、重本率等，从而评估这些异校间学业水平排名或差距，如辅导机构评估的“全国百强学校”名单；第三，在保证试卷具有区分度和足够高的信度前提下，异校间进行多次联考，从而评估出这些学校间的学业水平差距。

上述三种应用方案在一些场景上虽然可用，但是存在较多缺陷。第一种方案应用方便，但是基本完全依靠老师的主观评估，评估误差比较难控制，且易受到每年学生水平能力不一致等因素影响；第二种方案，虽然涵盖每年的重本率等指标目前较为被社会认可，但该方案仅可在少部分头部学校或者说社会特别关注学校间进行，且特别费时费力，有的辅导机构每年仅对全国前100学校进行评估，但需要花费较大人力资源，且耗时较长，需要几个月时间；第三种方案，实际数据收集难度大，需要有机构能收集学校内真实联考数据，同时需要考试具有区分度，省内联考较为容易获取，但是不同省学校间联考则很难获取，因为会受到教材版本以及学校政策等限制，异省间学校联考基本很少，很多学校的联考或高考数据较难完整获取。

因此，如何针对上述缺陷，更加智能地进行学校间的学业水平评估比较的问题需要解决。

发明内容

本申请实施例提供了一种学校间的学业水平比较方法、装置及电子设备，能够基于现有的数据，在联考次数较少的情况下，实现学校间的学业水平比较评估。

第一方面，本申请实施例提供一种学校间的学业水平比较方法，所述方法包括：

获取第一学校的第一历史作答数据和第二学校的第二历史作答数据；

若所述第一学校和所述第二学校之间共同参与联考的联考次数少于预设数值，从所述第一历史作答数据和所述第二历史作答数据中选取目标试题，得到目标试题集合；

根据所述目标试题集合生成虚拟联考评估试卷；

根据所述虚拟联考评估试卷比较所述第一学校和所述第二学校的学校学业水平。

第二方面，本申请实施例提供一种学校间的学业水平比较装置，所述装置包括：

通信单元，用于获取第一学校的第一历史作答数据和第二学校的第二历史作答数据；

处理单元，用于若所述第一学校和所述第二学校之间共同参与联考的联考次数少于预设数值，从所述第一历史作答数据和所述第二历史作答数据中选取目标试题，得到目标试题集合；

所述处理单元，还用于根据所述目标试题集合生成虚拟联考评估试卷；

所述处理单元，还用于根据所述虚拟联考评估试卷比较所述第一学校和所述第二学校的学校学业水平。