[发明专利]学校间的学业水平比较方法、装置及电子设备有效

专利信息
申请号: 202011574009.5 申请日: 2020-12-25
公开(公告)号: CN112749881B 公开(公告)日: 2023-10-27
发明(设计)人: 丁亮;魏思;王士进;付瑞吉;沙晶;胡国平 申请(专利权)人: 科大讯飞股份有限公司
主分类号: G06F17/00 分类号: G06F17/00
代理公司: 广州三环专利商标代理有限公司 44202 代理人: 熊永强
地址: 230088 安徽省*** 国省代码: 安徽;34
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摘要:
搜索关键词: 学校 学业 水平 比较 方法 装置 电子设备
【权利要求书】:

1.一种学校间的学业水平比较方法,其特征在于,所述方法包括:

获取第一学校的第一历史作答数据和第二学校的第二历史作答数据;

若所述第一学校和所述第二学校之间共同参与联考的联考次数少于预设数值,从所述第一历史作答数据和所述第二历史作答数据中选取目标试题,得到目标试题集合;

根据所述目标试题集合生成虚拟联考评估试卷;

根据所述虚拟联考评估试卷比较所述第一学校和所述第二学校的学校学业水平。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述从所述第一历史作答数据和所述第二历史作答数据中选取目标试题,得到目标试题集合,包括:

将所述第一历史作答数据和所述第二历史作答数据进行比对,得到待选试题集,所述待选试题集存在以下至少一种待选试题:比对得到的相同试题或相似试题;

获取待选试题集中每一待选试题的学业评估参数,得到多个学业评估参数;

根据所述多个学业评估参数从所述待选试题集中选取多个目标试题,得到所述目标试题集合。

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述学业评估指标参数包括信度,所述获取待选试题集中每一待选试题的学业评估指标参数,得到多个学业评估参数,包括:

将所述待选试题集中每一待选试题输入预设的信度预测模型,输出该待选试题的信度,得到多个信度。

4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述根据所述多个学业评估指标参数从所述待选试题集中选取多个目标试题,包括:

获取预先设置的试卷评估参数;

根据所述试卷评估参数配置试题分布信息,所述试题分布信息包括分别处于不同的多个参数范围的试题分布信息;

根据所述多个学业评估指标参数从所述待选试题集中选取多个目标试题,使所述多个目标试题满足所述试题分布信息。

5.根据权利要求1-4任一项所述的方法,所述方法还包括:

若所述第一学校和所述第二学校之间共同参与联考的联考次数大于0,获取所述第一学校共同参与联考的第一联考成绩,以及所述第二学校共同参与联考的第二联考成绩;

若所述联考次数大于或等于预设数值,根据所述第一联考成绩和所述第二联考成绩比较所述第一学校和所述第二学校的学校学业水平。

6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述第一联考成绩包括至少一次联考对应的至少一个第一联考平均分,所述第二联考成绩包括至少一次联考对应的至少一个第二联考平均分,所述根据所述第一联考成绩和所述第二联考成绩比较所述第一学校和所述第二学校的学校学业水平,包括:

根据所述至少一个第一联考平均分计算所述第一学校的第一加权平均分,根据所述至少一个第二联考平均分计算所述第二学校的第二加权平均分;

根据所述第一加权平均分和所述第二加权平均分确定所述第一学校和所述第二学校的学业水平比较结果。

7.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述虚拟联考评估试卷的虚拟试卷数目为至少一个,所述根据所述虚拟联考评估试卷比较所述第一学校和所述第二学校的学校学业水平,包括:

根据所述第一历史作答数据计算所述第一学校关于所述虚拟联考评估试卷的第一虚拟成绩;根据所述第二学校的第二历史作答数据计算所述第二学校关于所述虚拟联考评估试卷的第二虚拟成绩;所述第一虚拟成绩包括至少一个虚拟联考评估试卷对应的至少一个第一虚拟平均分;所述第二虚拟成绩包括至少一个虚拟联考评估试卷对应的至少一个第二虚拟平均分;

若所述第一学校和所述第二学校之间共同参与联考的联考次数大于0且小于所述预设数值,且所述联考次数和所述虚拟试卷数目之和大于或等于所述预设数值,根据所述第一虚拟成绩和所述第一联考成绩计算所述第一学校的第三加权平均分,根据所述第二虚拟成绩和所述第二联考成绩计算所述第一学校的第四加权平均分;

根据所述第三加权平均分和所述第四加权平均分确定所述第一学校和所述第二学校的学业水平比较结果。

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