[发明专利]异步眼图均衡方法、装置及系统

权利要求书

1.一种异步眼图均衡方法，其特征在于，包括：

获取眼图信号数据；

均衡器采用j个均衡档位对所述眼图信号数据执行欠采样以获得均衡后数据，根据所述均衡后数据的幅值设置i级参考电平，根据每一级参考电平对所述均衡后数据进行预处理，得到所述j个均衡档位各自的所有级参考电平对应的眼图统计数据；

根据预设条件对所述j个均衡档位各自的所有级参考电平对应的眼图统计数据执行筛选以获得调整均衡档位，包括：

取与第一个均衡档位的每一级参考电平对应的统计数据中的最大值作为第一个均衡档位的最大值；

重复上述操作分别获得j个均衡档位最大值，取其中最大数值和次大数值；以及

将所述最大数值与所述次大数值做差，并将差值的绝对值与预设容差值比较大小：

若所述绝对值小于等于所述预设容差值，则输出所述最大数值对应的均衡档位至所述均衡器，进行自适应均衡档位调整；

若所述绝对值大于所述预设容差值，则进行容差判断选择对应的均衡档位至所述均衡器，进行自适应均衡档位调整；以及

输出所述调整均衡档位至所述均衡器，以便所述均衡器执行自适应地均衡档位调整；

其中i、j均为整数，且j≥2，8≤i≤64。

2. 根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据每一级参考电平对所述均衡后数据进行预处理，得到所述j个均衡档位各自的所有级参考电平对应的眼图统计数据包括：

对第一个均衡档位的均衡后数据与每一级参考电平比较大小，并对比较结果进行计数统计，以获得与第一个均衡档位的每一级参考电平对应的统计数据；以及

重复上述操作分别获得与j个均衡档位的每一级参考电平对应的统计数据。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述对第一个均衡档位的均衡后数据与每一级参考电平比较大小，并对比较结果进行计数统计包括：

若所述均衡后数据小于等于第一级参考电平，则所述第一级参考电平计数为“1”；

若所述均衡后数据大于所述第一级参考电平，则所述第一级参考电平计数为“0”；

重复上述操作，获得所述均衡后数据与每一级参考电平的比较结果的计数；以及

对计数结果进行统计获得一级均衡档位的所有级参考电平的统计数据。

4. 根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述进行容差判断选择对应的均衡档位至所述均衡器包括：

若所述最大数值对应的参考电平的级数小于等于所述次大数值对应的参考电平的级数，则输出所述次大数值对应的均衡档位至所述均衡器；以及

若所述最大数值对应的参考电平的级数大于所述次大数值对应的参考电平的级数，则输出所述最大数值对应的均衡档位至所述均衡器。