[发明专利]雪崩测试参数选取方法、装置、计算机设备及存储介质

权利要求书

1.一种雪崩测试参数选取方法，其特征在于，包括：

获取测试环境参数和重复雪崩耐量测试电路的设定参数；

根据所述测试环境参数和所述设定参数得到当前设定参数下待测器件的结温参数，并将所述结温参数与预设结温阈值进行比较分析；

根据比较分析结果输出设定参数合理的信息或调整设定参数的提示信息。

2.根据权利要求1所述的雪崩测试参数选取方法，其特征在于，所述结温参数包括峰值结温，所述根据比较分析结果输出设定参数合理的信息或调整设定参数的提示信息的步骤，包括：

当所述峰值结温小于所述预设结温阈值时，输出设定参数合理的信息；

当所述峰值结温大于或等于所述预设结温阈值时，输出调整设定参数的提示信息。

3.根据权利要求1所述的雪崩测试参数选取方法，其特征在于，所述结温参数包括峰值结温，所述根据所述测试环境参数和所述设定参数得到当前设定参数下待测器件的结温参数的步骤，包括：

当重复雪崩耐量测试电路的负载电阻值不为零时，根据所述测试环境参数和重复雪崩耐量测试电路的供电电压值、电感值、负载电阻值、工作脉冲占空比、工作频率、待测器件导通电阻值和待测器件击穿电压值进行分析，得到待测器件的峰值结温；

当重复雪崩耐量测试电路的负载电阻值为零时，根据所述测试环境参数和重复雪崩耐量测试电路的供电电压值、电感值、工作脉冲占空比、工作频率和待测器件击穿电压值进行分析，得到待测器件的峰值结温。

4.根据权利要求3所述的雪崩测试参数选取方法，其特征在于，所述根据所述测试环境参数和重复雪崩耐量测试电路的供电电压值、电感值、负载电阻值、工作脉冲占空比、工作频率、待测器件导通电阻值和待测器件击穿电压值进行分析，得到待测器件的峰值结温的步骤，包括：

根据重复雪崩耐量测试电路的供电电压值、负载电阻值和待测器件导通电阻值进行分析，得到雪崩电流值；

根据所述雪崩电流值、所述负载电阻值、所述供电电压、重复雪崩耐量测试电路的电感值和待测器件击穿电压值进行分析，得到雪崩脉宽；

根据所述雪崩电流值、所述雪崩脉宽和所述待测器件击穿电压值进行分析，得到重复雪崩能量值；

根据所述重复雪崩能量值和所述雪崩脉宽进行分析，得到雪崩功率；

根据所述重复雪崩能量值和重复雪崩耐量测试电路的工作频率进行分析，得到平均雪崩功率；

根据所述重复雪崩耐量测试电路的工作脉冲占空比、所述雪崩电流值和所述待测器件导通电阻值进行分析，得到平均导通功率；

根据所述平均雪崩功率、所述平均导通功率和测试环境参数进行分析，得到平均结温；

根据所述雪崩功率和所述测试环境参数进行分析，得到结温变化量；

根据所述平均结温和所述结温变化量得到结温峰值。

5.根据权利要求4所述的雪崩测试参数选取方法，其特征在于，所述测试环境参数包括环境温度、待测器件的稳态结环热阻值和瞬态结环热阻值，所述根据所述平均雪崩功率、所述平均导通功率和测试环境参数进行分析，得到平均结温的步骤，包括：

根据所述平均雪崩功率、所述平均导通功率、所述环境温度和所述稳态结环热阻值进行分析，得到平均结温；

所述根据所述雪崩功率和所述测试环境参数进行分析，得到结温变化量的步骤，包括：

根据所述雪崩功率和所述瞬态结环热阻值进行分析，得到结温变化量；

或，所述测试环境参数包括平均壳温、待测器件的稳态结壳热阻值和瞬态结壳热阻值，所述根据所述平均雪崩功率、所述平均导通功率和测试环境参数进行分析，得到平均结温的步骤，包括：

根据所述平均雪崩功率、所述平均导通功率、所述平均壳温和所述稳态结壳热阻值进行分析，得到平均结温；

所述根据所述雪崩功率和所述测试环境参数进行分析，得到结温变化量的步骤，包括：

根据所述雪崩功率和所述瞬态结壳热阻值进行分析，得到结温变化量。