[发明专利]一种进气道类腔体目标散射测量方法在审

专利信息
申请号: 202011537717.1 申请日: 2020-12-23
公开(公告)号: CN112731325A 公开(公告)日: 2021-04-30
发明(设计)人: 赵京城;娄长玉;李家碧;杨宗凯 申请(专利权)人: 北京航空航天大学
主分类号: G01S7/41 分类号: G01S7/41
代理公司: 北京慕达星云知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11465 代理人: 符继超
地址: 100083*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 进气道类腔体 目标 散射 测量方法
【权利要求书】:

1.一种进气道类腔体目标散射测量方法,其特征在于,包括以下步骤:

S1.将腔体口面尺寸作为计算远场条件过程中的被测目标最大尺寸,选择满足远场条件的测试场;

S2.配置测量设备,根据理论计算得到一次以上的散射位置信息,合理配置测量设备的扫频频率间隔△f和脉冲调制参数;

S3.通过配置后的测量设备分别依次进行背景测量、定标体测量、目标测量和定标处理,获得所述腔体散射目标的RCS测量结果。

2.根据权利要求1所述的一种进气道类腔体目标散射测量方法,其特征在于,S2中配置测量设备,使测量设备能够测量2~5倍于腔体目标尺寸的能力。

3.根据权利要求1所述的一种进气道类腔体目标散射测量方法,其特征在于,所述远场条件的计算方法为:

式中,D为腔体目标口面最大尺寸,而非腔体目标三维最大尺寸,R为雷达与被测目标之间的距离,λ为波长。

4.根据权利要求1所述的一种进气道类腔体目标散射测量方法,其特征在于,所述背景测量的具体方法包括:

测量包含目标转台在内的微波暗室背景,获得目标转台及其它杂散回波构成的环境背景回波B(f)。

5.根据权利要求3所述的一种进气道类腔体目标散射测量方法,其特征在于,所述定标体测量的具体方法包括:

在目标转台上放置定标体,保持测量设备的配置不变,雷达接收到的定标体的回波信号SC(f):

Sc(f)=C(f)+B(f)

式中,C(f)为定标体真实回波,B(f)为环境背景回波。

6.根据权利要求5所述的一种进气道类腔体目标散射测量方法,其特征在于,所述目标测量的具体方法包括:

将腔体散射目标置于目标转台上,调整重心,使得腔体口面在旋转测量过程中始终能处于暗室静区范围内,测量获得目标信号ST(f):

ST(f)=T(f)+B(f)

式中,其中T(f)为所述腔体散射目标本身的回波。

7.根据权利要求6所述的一种进气道类腔体目标散射测量方法,其特征在于,所述定标处理的具体方法包括:

采用背景矢量相减技术,对所述目标信号ST(f)和所述定标体的回波信号SC(f)分别应用所述环境背景回波B(f),获得所述腔体散射目标的RCS测量结果,目标散射函数的定标方程为:

式中,σT(f)为目标散射函数,是需要测量和定标的量;σC(f)为定标体的散射函数。

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