[发明专利]一种进气道类腔体目标散射测量方法在审
申请号: | 202011537717.1 | 申请日: | 2020-12-23 |
公开(公告)号: | CN112731325A | 公开(公告)日: | 2021-04-30 |
发明(设计)人: | 赵京城;娄长玉;李家碧;杨宗凯 | 申请(专利权)人: | 北京航空航天大学 |
主分类号: | G01S7/41 | 分类号: | G01S7/41 |
代理公司: | 北京慕达星云知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11465 | 代理人: | 符继超 |
地址: | 100083*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 进气道类腔体 目标 散射 测量方法 | ||
1.一种进气道类腔体目标散射测量方法,其特征在于,包括以下步骤:
S1.将腔体口面尺寸作为计算远场条件过程中的被测目标最大尺寸,选择满足远场条件的测试场;
S2.配置测量设备,根据理论计算得到一次以上的散射位置信息,合理配置测量设备的扫频频率间隔△f和脉冲调制参数;
S3.通过配置后的测量设备分别依次进行背景测量、定标体测量、目标测量和定标处理,获得所述腔体散射目标的RCS测量结果。
2.根据权利要求1所述的一种进气道类腔体目标散射测量方法,其特征在于,S2中配置测量设备,使测量设备能够测量2~5倍于腔体目标尺寸的能力。
3.根据权利要求1所述的一种进气道类腔体目标散射测量方法,其特征在于,所述远场条件的计算方法为:
式中,D为腔体目标口面最大尺寸,而非腔体目标三维最大尺寸,R为雷达与被测目标之间的距离,λ为波长。
4.根据权利要求1所述的一种进气道类腔体目标散射测量方法,其特征在于,所述背景测量的具体方法包括:
测量包含目标转台在内的微波暗室背景,获得目标转台及其它杂散回波构成的环境背景回波B(f)。
5.根据权利要求3所述的一种进气道类腔体目标散射测量方法,其特征在于,所述定标体测量的具体方法包括:
在目标转台上放置定标体,保持测量设备的配置不变,雷达接收到的定标体的回波信号SC(f):
Sc(f)=C(f)+B(f)
式中,C(f)为定标体真实回波,B(f)为环境背景回波。
6.根据权利要求5所述的一种进气道类腔体目标散射测量方法,其特征在于,所述目标测量的具体方法包括:
将腔体散射目标置于目标转台上,调整重心,使得腔体口面在旋转测量过程中始终能处于暗室静区范围内,测量获得目标信号ST(f):
ST(f)=T(f)+B(f)
式中,其中T(f)为所述腔体散射目标本身的回波。
7.根据权利要求6所述的一种进气道类腔体目标散射测量方法,其特征在于,所述定标处理的具体方法包括:
采用背景矢量相减技术,对所述目标信号ST(f)和所述定标体的回波信号SC(f)分别应用所述环境背景回波B(f),获得所述腔体散射目标的RCS测量结果,目标散射函数的定标方程为:
式中,σT(f)为目标散射函数,是需要测量和定标的量;σC(f)为定标体的散射函数。
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