[发明专利]曲面块材的残留应力量测方法在审

专利信息
申请号: 202011536393.X 申请日: 2020-12-23
公开(公告)号: CN114659687A 公开(公告)日: 2022-06-24
发明(设计)人: 刘宗荣;蔡修安 申请(专利权)人: 财团法人金属工业研究发展中心
主分类号: G01L5/00 分类号: G01L5/00;G01L1/25
代理公司: 北京汇泽知识产权代理有限公司 11228 代理人: 关宇辰
地址: 中国台湾高雄*** 国省代码: 台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 曲面 残留 力量 方法
【权利要求书】:

1.一种曲面块材的残留应力量测方法,其特征在于,至少包含以下步骤:

定位一曲面块材的一待检测的曲面的曲率最高点作为一待检测点;

应用一整合X-ray光源与侦测器的仪器设备,以一X-ray绕射原理进行该待检测点的量测,结合cosα法分析计算出该仪器设备量测的应变值;以及

配合该曲面块材的材料性质量测数据,导入下述公式1的曲面块材残留应力运算模型,算得该曲面的曲面残留应力;

[公式1]

其中,σ:上述曲面残留应力;Ε:该块材的杨氏系数;ε::该仪器设备量测的应变值;hb:该块材的厚度;κ:该曲面最高点的曲率;χ:绕射深度。

2.如权利要求1所述的曲面块材的残留应力量测方法,其特征在于,该cosα法为分析该仪器设备对该待检测点量测在一绕射环α角度范围下的四种应变值,并代入下述公式2而得到该仪器设备量测的应变值;

[公式2]

其中,ε::该仪器设备量测的应变值;εα::德拜环α角应变值;ε::德拜环-α角应变值;επ+α:德拜环π+α角应变值;επ-α:德拜环π-α角应变值。

3.如权利要求1所述的曲面块材的残留应力量测方法,其特征在于,该仪器设备为整合X-ray光源与侦测器于相对该待检测点的同一侧的仪器设备。

4.如权利要求1所述的曲面块材的残留应力量测方法,其特征在于,该仪器设备为一携带式仪器设备。

5.如权利要求1所述的曲面块材的残留应力量测方法,其特征在于,该待检测点的定位方式为配合一曲面固定载台将该曲面块材固定于其上,并于该曲面固定载台校调出该待检测点的位置维持在一水平最高点上。

6.如权利要求5所述的曲面块材的残留应力量测方法,其特征在于,该曲面固定载台具有一受测件放置槽、一锁固器及一水平调整器,该受测件放置槽用以容置该曲面块材,该锁固器用以将该曲面块材锁固于该受测件放置槽中,该水平调整器用以配合该锁固器的紧固力道,将该待检测点维持在一水平最高点位置。

7.如权利要求6所述的曲面块材的残留应力量测方法,其特征在于,该锁固器为一能够将先端部螺出或螺入该受测件放置槽一侧壁,以顶抵固定或释放该曲面块材的螺丝结构。

8.如权利要求6所述的曲面块材的残留应力量测方法,其特征在于,该水平调整器为一能够将先端部螺出或螺入该受测件放置槽槽底,以顶高或放低该曲面块材的螺丝结构。

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