[发明专利]显示屏子像素的图像位置标记方法、设备以及存储介质有效
申请号: | 202011521386.2 | 申请日: | 2020-12-21 |
公开(公告)号: | CN112258429B | 公开(公告)日: | 2021-03-26 |
发明(设计)人: | 张耀;张滨;徐大鹏 | 申请(专利权)人: | 深圳精智达技术股份有限公司 |
主分类号: | G06T5/00 | 分类号: | G06T5/00;G06T7/00;G06T7/11;G06T7/136;G06T7/73 |
代理公司: | 深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287 | 代理人: | 关向兰 |
地址: | 518000 广东省深圳市龙华区龙华街*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 显示屏 像素 图像 位置 标记 方法 设备 以及 存储 介质 | ||
本申请公开一种显示屏子像素的图像位置标记方法、设备以及存储介质,图像位置标记方法包括:获取拍摄好的显示屏的子像素原图,对所述子像素原图中的所有子像素亮点进行标记,得到子像素标记图;根据所述子像素原图中的第一方向像素间距和第二方向像素间距,查找所述子像素标记图中每个子像素亮点的邻近点中的待填补点,并对所述待填补点进行填补,直到所述子像素原图不存在所述待填补点,得到填补标记图;基于所述子像素标记图和所述填补标记图得到目标子像素标记图。本申请旨在解决现有方法中使用定位图进行显示屏子像素定位时易出现错位及抗干扰能力较弱,同时技术人员的使用难度及工作量也较大的问题。
技术领域
本发明涉及显示屏技术领域,尤其涉及一种显示屏子像素的图像位置标记方法、设备以及存储介质。
背景技术
显示屏的光学AOI(Automated Optical Inspection缩写,译为自动光学检测)检测及光学Mura(云纹现象,即显示屏上任何人眼可识别的颜色差异)补偿环节中,通常使用高分辨率的相机对显示屏进行点灯拍图。图像上每一个亮团和显示屏上一个子像素相对应,因此,在图像上准确的获取每颗子像素的图像位置,并和显示屏的实际物理位置一一准确对应是正确进行AOI亮暗点检测的基础,也是光学抽取式补偿中能够正确获取每颗子像素亮度值的前提。
现有的子像素定位需要有定位图(用于在显示屏上输出的已知像素点位置的图形)进行辅助。然而,定位图的方法在显示屏的像素排列发生变化时,子像素定位方法需要重新调整。在手机屏机种不一样的时候,定位图的显示可能存在差异,往往得不到足够细致的关注和验证,导致子像素定位易出现错位,同时,技术人员的使用难度及工作量也较大。
上述内容仅用于辅助理解本申请的技术方案,并不代表承认上述内容是现有技术。
发明内容
本申请实施例通过提供一种显示屏子像素的图像位置标记方法、设备以及存储介质,本申请旨在解决现有方法中使用定位图进行显示屏子像素定位时易出现错位,同时技术人员的使用难度及工作量也较大的问题。
本申请实施例提供了一种显示屏子像素的图像位置标记方法,所述方法包括:
获取拍摄好的显示屏的子像素原图,对所述子像素原图进行均值滤波和二值化处理得到去除噪声的第一图像;
对所述子像素原图进行第一局部阈值分割得到去除干扰像素点的第二图像;所述干扰像素点包括灰尘遮盖点、像素坏点中的至少之一;
对所述子像素原图进行第一卷积运算和第二局部阈值分割得到具有特定形态特征的第三图像;
对所述子像素原图进行第二卷积运算和第三局部阈值分割得到具有特定形态特征的第四图像;
对所述子像素原图进行第二卷积运算和局部极大值标记得到第五图像;
将所述第一图像、第二图像、第三图像、第四图像进行求交集运算得到去除噪声和干扰像素点、且具有的特定形态特征的中间图像;
将所述中间图像与所述第五图像进行求交集运算得到包含所有子像素亮点的子像素标记图;
根据所述子像素原图中的第一方向像素间距和第二方向像素间距,查找所述子像素标记图中每个子像素亮点的邻近点中的待填补点,并对所述待填补点进行填补,直到所述子像素原图不存在所述待填补点,得到填补标记图;
基于所述子像素标记图和所述填补标记图得到目标子像素标记图。
在一些实施例中,所述子像素亮点的邻近点包括与所述子像素亮点在第一方向上相距第一方向像素间距的邻近点,以及与所述子像素亮点在第二方向上相距第二方向像素间距的邻近点;所述第一方向与所述第二方向相互垂直。
在一些实施例中,还包括:从所述子像素原图中计算得到所述第一方向像素间距以及所述第二方向像素间距。
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