[发明专利]驱动芯片异常侦测方法、装置、电子设备及可读存储介质

说明书

本发明提供一种驱动芯片异常侦测方法、装置、电子设备及可读存储介质，该方法包括：通过时序控制器的第一引脚向N个串联的驱动芯片中的第一个驱动芯片输入链路训练信号；当检测到所述第一引脚为第一电平，且持续时间超过第一预设时间时，判定进入侦测模式；在所述侦测模式下向N个驱动芯片中的每个目标驱动芯片分别依次输入链路训练信号，并重新获取向所述目标驱动芯片输入链路控制信号时所述第一引脚的电平；以及当所述第一引脚的电平为第一电平时，则判定所述目标驱动芯片为异常。本发明通过时序控制器针对每个驱动芯片进行侦测，获取驱动芯片的异常信息，并将异常信息显示于正常驱动芯片对应位置的显示屏中，快速且正确确定异常原因。

技术领域

本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种驱动芯片异常侦测方法、装置、电子设备及可读存储介质。

背景技术

现有的大尺寸液晶显示面板(Liquid Crystal Display，LCD)中，存在相互独立的时序控制器、驱动芯片以及电源芯片等单元模块，在电子设备进行点灯过程时，会发生个别驱动芯片烧毁的情况，但无法获知发生故障的驱动芯片，需要将不良品返厂解析，才能确认故障驱动芯片。

发明内容

本发明提供一种驱动芯片异常侦测方法、装置、电子设备及可读存储介质，以解决电子设备发生不良时，无法获知发生故障的驱动芯片的问题。

根据本发明的第一方面，本发明提供一种驱动芯片异常侦测方法，所述方法包括：通过时序控制器的第一引脚向N个串联的驱动芯片中的第一个驱动芯片输入链路训练信号；当检测到所述第一引脚为第一电平，且持续时间超过第一预设时间时，判定进入侦测模式；在所述侦测模式下向N个驱动芯片中的每个目标驱动芯片分别依次输入链路训练信号，并重新获取向所述目标驱动芯片输入链路控制信号时所述第一引脚的电平；以及当所述第一引脚的电平为第一电平时，则判定所述目标驱动芯片为异常。

在一些实施例中，所述时序控制器还包括一第二引脚，所述第二引脚电连接至所述第一引脚，当所述第一引脚为第一电平，且超过所述第一预设时间，判定进入侦测模式包括：控制所述第二引脚自动从第一电平转换至第二电平，以指示进入所述侦测模式。

在一些实施例中，所述方法还包括：当所述第二引脚为第一电平时，指示进入正常模式，在所述正常模式下，向N个串联的驱动芯片中的第一个驱动芯片输入链路训练信号；当所述第二引脚为第二电平时，指示进入所述侦测模式，在所述侦测模式下，向N个驱动芯片中的每个目标驱动芯片分别依次输入链路训练信号。

在一些实施例中，所述方法还包括：当所述第一引脚的电平为第二电平时，则判定所述目标驱动芯片为正常。

在一些实施例中，在判定所述目标驱动芯片为异常的步骤中，包括：记录所述目标驱动芯片的异常信息，所述异常信息至少包括所述目标驱动芯片的位置信息。

在一些实施例中，所述方法还包括：当完成所有所述驱动芯片的侦测，自动将所述第一引脚从第一电平转换为第二电平；向正常的驱动芯片输入显示信号，以控制与所述驱动芯片电连接的显示面板显示提示字符，所述提示字符用于指示异常的驱动芯片。

在一些实施例中，所述方法还包括：若向正常的驱动芯片输入显示信号持续第二预设时间，重新通过所述第一引脚向N个串联的驱动芯片中的第一个驱动芯片输入链路训练信号。

根据本发明的第二方面，本发明提供一种驱动芯片异常侦测装置，所述驱动芯片异常侦测装置包括：输入模块，用于通过时序控制器的第一引脚向N个串联的驱动芯片中的第一个驱动芯片输入链路训练信号；第一判定模块，用于当检测到所述第一引脚为第一电平，且持续时间超过第一预设时间时，判定进入侦测模式；获取模块，用于在所述侦测模式下向N个驱动芯片中的每个目标驱动芯片分别依次输入链路训练信号，并重新获取向所述目标驱动芯片输入链路控制信号时所述第一引脚的电平；以及第二判定模块，用于当所述第一引脚的电平为第一电平时，则判定所述目标驱动芯片为异常。