[发明专利]一种中子单色器用非完美单晶片的高温成形装置在审
申请号: | 202011335716.9 | 申请日: | 2020-11-25 |
公开(公告)号: | CN112575386A | 公开(公告)日: | 2021-03-30 |
发明(设计)人: | 谢炜;罗奕兵;仝永钢;余小峰;曹太山 | 申请(专利权)人: | 长沙理工大学 |
主分类号: | C30B33/02 | 分类号: | C30B33/02;C30B29/08;C30B33/00 |
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地址: | 410114 湖南省*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 中子 单色 器用 完美 晶片 高温 成形 装置 | ||
一种中子单色器用非完美单晶片的高温成形装置,由加热电炉、温度控制系统、模具系统、加载系统、真空保护系统、辅助系统组成;加热电炉的炉口朝下,电炉具有垂直升降或炉膛开闭功能,由一端为通孔一端封闭的玻璃罩与阻挡法兰形成真空保护腔;玻璃罩并开设有操作口,模具由上、中、下模组成,中模为复合模具,由上模与中模组成一套整平模,中模与下模形成弯曲模具。本发明可同时让两片锗片参与成型,提高了生产效率,无须分步冷却至室温,可极大提高生产效率。
技术领域
本发明属于一种薄片的高温成型装置,尤其涉及到一种中子单色器用非完美单晶片的高温成形装置。
背景技术
反应堆和加速器提供的慢中子通常都具有连续的能谱,而中子散射实验须提供某个一个很窄特定波长范围的“单色中子”。利用晶体的Bragg相干散射从白光中子源,通过反射和透射来获得所需“单色中子”,这是中子散射频谱仪最常用的方法。中子单色器就是利用晶体的Bragg反射形成所需“单色中子”。因此,中子单色器是中子散射频谱仪上一种常见的中子光学组件,对频谱仪的分辨率和入射中子束强度有着重要影响,被称为中子散射频谱仪的“心脏”。为提高出射中子的强度,通常采用非完美晶体仍然是中子单色器或中子分析器的首要选择。
人工单晶是由尺寸非常小嵌镶块组成,嵌镶块内具有完美的周期分布的点阵结构,但镶嵌块之间存在厚度为几埃的无序原子层。为了获取足够的中子强度,单色器用的嵌镶晶体宽度必须匹配入射束的水平发散,约为0.3-05°。而人工单晶的嵌镶度非常小,需要增加几十倍后才能用作中子单色器。在晶体中引入大的嵌镶结构被称为嵌镶延展技术,增加嵌镶宽度,将极大地提高晶体Bragg反射的强度,满足中子频谱仪对强度的需求。
目前,制备中子单色器用非完美晶体片主要采用单晶热压形变技术(肖红文等,锗单晶热压形变装置,专利号:200710151357.X, 2007.9.30;肖红文 等, 锗单晶热压形变工艺, 专利号:200710151358.4,2007.9.30)。但本方法制备非完美单晶锗片需要经过正向弯曲、整平、反向弯曲的多个循环过程。由于锗片需在真空高温下变形,其每个工位只能完成一个变形工序,其每道次工序需要锗片装片、真空保护、加热、成形、冷却,其生产流程长,效率低下。
发明内容
针对已有设备的不足。本发明提供一种中子单色器用非完美单晶片的高温成形装置,其特征在于,装置由加热电炉、温度控制系统、模具系统、加载系统、真空保护系统、操作台、辅助系统组成。
所述,温度控制系统由温度测量和控制仪组成,温度测量采用热电偶形式,温度控制采用与热电偶相匹配的温控仪;
所述加热电炉的最高加热温度不高于1350°,炉膛为圆柱形且炉口朝下,加热电炉具有垂直升降或炉膛开闭功能;
所述真空系统由玻璃罩、玻璃罩支撑板、真空泵、真空计、连接接头、管路组成;
进一步,所述玻璃罩主体为圆柱体,一端为穹顶封闭,另一端为通孔,玻璃罩在处于保护状态时,玻璃罩呈立式放置并使通孔端朝下,通孔端处于操作台的水冷套箱内的玻璃罩支撑板所支撑,本设备处于工作状态时,水冷套箱内的液面始终高于玻璃罩的通孔端面,在玻璃罩的圆柱面开设有操作口,操作口装配有不透气材质的手套,手套与玻璃罩之间采用法兰+胶接密封方式;
进一步,所述管路连接真空泵与玻璃罩,管路采用硬质管形式,硬质管通过连接接头与玻璃罩内腔想通,硬质管另一端与真空计和真空泵相连,其连接采用卡扣、螺纹或胶接的密封形式;
所述热电偶的连接线从阻挡法兰中引出玻璃罩,其连接线与阻挡法兰间的密封采用胶接方法;
所述操作台的主体为水冷套箱结构,水冷套箱开设有环形槽,环形槽下设置有玻璃罩支撑板,玻璃罩支撑板带动玻璃罩上下移动;
所述辅助系统包含绝热垫、置放架、以及保护层;
进一步,所述绝热垫安置于在阻挡法兰的上部,绝热垫开设有便于非完美单晶片取放的缺口;在本装置处于装片或移片时,玻璃罩上升,绝热垫处于操作口之下,本装置处于加热状态时,玻璃罩下移,绝热垫处于操作口之上;
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