[发明专利]距离测量方法以及电子设备

权利要求书

1.一种距离测量方法，其特征在于，应用于控制器，所述方法包括：

控制像素单元对第一反射信号采样以获得第一采样结果，并控制所述像素单元对第二反射信号采样以获得第二采样结果；

根据所述第一采样结果获得第一反射信号和第一发射信号之间的第一相位差，并根据所述第一采样结果和所述第二采样结果获得第二反射信号和第二发射信号之间的第二相位差；

根据所述第二相位差对所述第一相位差进行校正处理，获得第三相位差；

根据所述第三相位差和所述第一反射信号的频率获得被测对象到图像传感器的距离；

其中，所述图像传感器包括多个像素单元，所述第一反射信号的频率大于所述第二反射信号的频率，所述第一反射信号为所述第一发射信号经被测对象反射后的信号，所述第二反射信号为所述第二发射信号经所述被测对象反射后的信号；

其中，根据所述第一采样结果和所述第二采样结果获得第二反射信号和第二发射信号之间的第二相位差，具体包括：

根据所述第一采样结果获得所述第一反射信号的幅值；

根据所述第二采样结果、所述第一反射信号的幅值以及第一映射关系，获得所述第二相位差；

其中，所述第一映射关系表示所述第一反射信号的幅值和所述第二反射信号的幅值的对应关系；

其中，根据所述第二相位差对所述第一相位差进行校正处理，获得第三相位差，具体包括：

根据所述第二相位差和第二映射关系，确定第一相位差的参考值；

根据所述第一相位差的参考值对所述第一相位差进行校正处理，获得所述第三相位差；

其中，第二映射关系表示第一相位差和第二相位差的对应关系；

根据所述第二采样结果、所述第一反射信号的幅值以及第一映射关系获得所述第二相位差，具体包括：

根据第一方程组获得所述第二相位差，其中，所述第一方程组包括：

其中，△T表示第一采样数据和第二采样数据的差值，A_L表示第二反射信号的幅值，φ_L表示所述第二相位差，A_H表示所述第一反射信号的幅值，f₁(·)表示所述第一映射关系；

其中，每个像素单元包括第一采集单元、用于控制所述第一采集单元工作的第一开关、第二采集单元以及用于控制所述第二采集单元工作的第二开关，控制所述像素单元对所述第二反射信号采样获得第二采样结果，具体包括：

生成第一采样信号，其中，所述第一采样信号用于控制所述第一开关的通断，以控制所述第一采集单元对所述第二反射信号采样获得第一采样数据；

生成第二采样信号，其中，所述第二采样信号用于控制所述第二开关的通断，以控制所述第二采集单元对所述第二反射信号采样获得第二采样数据；

其中，所述第二采样结果包括第一采样数据和第二采样数据，所述第一开关的第一导通时刻与所述第二开关的第二导通时刻之间相差所述第二发射信号在单个信号周期内的持续时间的两倍，所述第一导通时刻是所述第一采样信号控制的，所述第二导通时刻是所述第二采样信号控制的。