[发明专利]一种飞机电连接器接触可靠性测试仪及其检测方法有效
申请号: | 202011224811.1 | 申请日: | 2020-11-05 |
公开(公告)号: | CN112429268B | 公开(公告)日: | 2021-05-25 |
发明(设计)人: | 张良;崔明宝;王文良 | 申请(专利权)人: | 北京天创凯睿科技有限公司 |
主分类号: | B64F5/60 | 分类号: | B64F5/60 |
代理公司: | 北京三聚阳光知识产权代理有限公司 11250 | 代理人: | 王艺涵 |
地址: | 100088 北京市海淀区青云里满庭*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 飞机 连接器 接触 可靠性 测试仪 及其 检测 方法 | ||
一种飞机电连接器接触可靠性测试仪及其检测方法,飞机电连接器接触可靠性测试仪包括:连接柱,连接柱内设置有供气体通过的通气道,通气道为至少两条;弹片检测机构,包括:设置在连接柱上的气囊,气囊为沿连接柱其长度方向延伸的条状结构,且气囊为至少两个,并沿连接柱其周向方向布置;每条通气道与一个气囊相连通;压力检测机构,用于检测气囊内气体的气压值;充放气机构,与每条通气道分别相连通,用于对气囊充气或放气。以解决现有技术中用于检测飞机电连接器接触可靠性的测试仪会磨损电气插孔,并且无法单独测试电气插孔内的每一个弹片,导致电气插孔的维修成本高的问题。
技术领域
本发明涉及电连接器检测技术领域,具体涉及一种飞机电连接器接触可靠性测试仪及其检测方法。
背景技术
飞机电连接器接触可靠性测试仪是用于检测飞机电气插孔的接触可靠性的检测设备。飞机电连接器由电气插孔与插针组成,飞机电气插孔内的弹片与插针抵接相连,插针使弹片发生形变与触点电连接,使电连接器通电。电连接器长时间插拔、振动或者自然老化影响下,使得电气插孔其正压力降低,接触点接触面积减小,从而导致“扩孔”现象。最终导致接触电阻变大,造成插头接触可靠性降低,造成严重的安全隐患。
现有技术中,采用检测插针替代飞机电连接器的插针从而测试电连接器接触可靠性。检测插针由多种不同直径的检测针组成,通过将不同直径的检测针依次插入电气插孔内,从而得出电气插孔的“扩孔”程度。但是,现有技术中的检测插针在检测过程中,需要反复与电气插孔插拔磨损电气插孔。而且,更为严重的是,由于飞机电连接器其电气插孔中的四个弹片是相互独立的,在使用过程中会出现其中一个或者几个弹片发生接触不良、变形等问题,现有的检测插针无法找到具体是那个弹片需要更换。导致现有的检测插针检查出飞机电气插孔“扩孔”问题时,需要直接将整个飞机电气插孔更换,而飞机电气插孔结构特殊其价格较高,这无形中又增加了飞机电气插孔的维修成本。
发明内容
本发明旨在提供一种飞机电连接器接触可靠性测试仪及其检测方法,以解决现有技术中用于检测飞机电连接器接触可靠性的测试仪会磨损电气插孔,并且无法单独测试电气插孔内的每一个弹片,导致电气插孔的维修成本高的问题。为此,本发明提供一种飞机电连接器接触可靠性测试仪,包括:
连接柱,所述连接柱内设置有供气体通过的通气道,所述通气道为至少两条;
弹片检测机构,包括:设置在所述连接柱上的气囊,所述气囊为沿所述连接柱其长度方向延伸的条状结构,且所述气囊为至少两个,并沿所述连接柱其周向方向布置;每条所述通气道与一个所述气囊相连通;
压力检测机构,用于检测所述气囊内气体的气压值;
充放气机构,与每条所述通气道分别相连通,用于对所述气囊充气或放气。
可选的,所述压力检测机构为分别设置在每条所述通气道上的压力表。
可选的,所述充放气机构包括多个单独设置的充气管,每个所述充气管均与所述连接柱上的其中一个通气道对应设置。
可选的,所述连接柱其长度方向上设置有用于容置所述气囊的条形凹槽;在所述气囊未充气状态下,所述气囊嵌置于所述条形凹槽内。
可选的,所述气囊为四个,且每个所述气囊分别与所述电气插孔内的其中一个弹片对应设置。
可选的,所述的飞机电连接器接触可靠性测试仪,还包括:
气囊限位挡件,所述气囊限位挡件设置在所述连接柱上;所述弹片检测机构处于准备检测状态下,所述弹片的侧部与所述气囊限位挡件相抵接,以限制所述连接柱的周向位置使所述气囊与所述弹片相对设置。
可选的,所述气囊限位挡件为沿所述连接柱其长度方向上设置的挡板。
可选的,所述连接柱其周向方向上设置有与电气插孔其开口边缘相对设置的连接柱限位挡件,所述连接柱限位挡件用于限定所述连接柱进入所述电气插孔的深度。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京天创凯睿科技有限公司,未经北京天创凯睿科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202011224811.1/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。