[发明专利]存储装置和其多个实体单元纠错方法在审
| 申请号： | 202011194901.0 | 申请日： | 2020-10-30 |
| 公开（公告）号： | CN112786099A | 公开（公告）日： | 2021-05-11 |
| 发明（设计）人： | 连存德;谢明辉;林纪舜;林小峰;张雅廸 | 申请（专利权）人： | 华邦电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/42 | 分类号： | G11C29/42;G06F11/10 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人： | 朱颖;刘芳 |
| 地址： | 中国台湾台*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 存储 装置 实体 单元 纠错 方法 | ||
1.一种存储装置，其特征在于，包括：
多个存储单元，其中所述多个存储单元中的每一个包括第一类型实体单元和第二类型实体单元；以及
存储器控制电路，耦合到所述多个存储单元中的每一个，
其中所述存储器控制电路将写入数据写入到所述第一类型实体单元中且验证存储在所述第一类型实体单元中的数据是否与所述写入数据相同，其中通过进行写入操作来设定和处理所述写入数据，且
当存储在所述第一类型实体单元中的所述数据与所述写入数据不同时将所述写入数据写入到所述第二类型实体单元中。
2.根据权利要求1所述的存储装置，其特征在于，所述存储器控制电路通过验证所述第一类型实体单元与所述第二类型实体单元的单元电流总和来验证存储在所述第一类型实体单元中的所述数据是否与所述写入数据相同。
3.根据权利要求1所述的存储装置，其特征在于，所述第一类型实体单元是已使用的实体单元且所述第二类型实体单元是用作数据修复的未使用的实体单元。
4.根据权利要求1所述的存储装置，其特征在于，将所述第二类型实体单元写入到对应于缺省值的电压电平或电阻值。
5.根据权利要求1所述的存储装置，其特征在于，所述写入数据是信息位数据，并且所述写入数据是奇偶校验位数据。
6.根据权利要求1所述的存储装置，其特征在于，所述多个存储单元包含至少一个信息位单元和至少一个奇偶校验位单元，且所述至少一个奇偶校验位单元使用的实体单元的数目比所述至少一个信息位单元的实体单元的数目多。
7.一种用于存储单元中的多个实体单元纠错的方法，其特征在于，包括：
进行写入操作来将写入数据写入到第一类型实体单元中；
验证存储在所述第一类型实体单元中的数据是否与所述写入数据相同；以及
当存储在所述第一类型实体单元中的所述数据与所述写入数据不同时通过将所述写入数据写入到第二类型实体单元中来重新进行所述写入操作。
8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，验证存储在所述第一类型实体单元中的所述数据是否与所述写入数据相同的步骤进一步包括：
对所述第一类型实体单元和所述第二类型实体单元进行电流总和验证。
9.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述第一类型实体单元是已使用的实体单元且所述第二类型实体单元是用作数据修复的未使用的实体单元。
10.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述写入数据是信息位数据，并且所述写入数据是奇偶校验位数据。
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