[发明专利]振镜测试装置、方法、设备及计算机可读存储介质有效
申请号: | 202011178182.3 | 申请日: | 2020-10-28 |
公开(公告)号: | CN112345206B | 公开(公告)日: | 2023-07-14 |
发明(设计)人: | 高文刚 | 申请(专利权)人: | 歌尔光学科技有限公司 |
主分类号: | G01M11/00 | 分类号: | G01M11/00;G01N21/84 |
代理公司: | 深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287 | 代理人: | 关向兰 |
地址: | 261031 山东省潍坊市高新区东*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 测试 装置 方法 设备 计算机 可读 存储 介质 | ||
1.一种振镜测试装置,其特征在于,所述振镜测试装置包括振镜、激光器、屏幕、振镜驱动板和支架,所述支架用于支撑所述屏幕和所述振镜,所述振镜驱动板用于驱动振镜振动,所述激光器发射激光光线到振动的所述振镜,所述振镜反射所述激光光线到所述屏幕,所述屏幕根据所述反射的激光光线确定所述振镜的摆动角度,其中,所述振镜振动时的摆动方向包括水平方向摆动和垂直方向摆动,所述屏幕的中心设置有圆孔,所述激光器通过所述屏幕中心的圆孔垂直发射激光光线到所述振镜,其中,所述屏幕上设置有多个光点位置,所述光点位置包括不在同一位置的光点A、光点B、光点C和光点D;
其中,所述振镜包括单轴振镜,所述圆孔到所述光点A、所述光点B、所述光点C和所述光点D的距离为L,所述光点A和所述光点B处于所述屏幕中过圆孔的对角线上,所述光点C和所述光点D处于所述屏幕中过圆孔的另一条对角线上;或者,
其中,所述振镜包括双轴振镜,确定所述光点A和所述光点D之间的AD直线距离,所述圆孔到所述AD直线距离的最短距离为Lh;确定所述光点A和所述光点B之间的AB直线距离,所述圆孔到所述AB直线距离的最短距离为Lv,所述圆孔处于所述光点A、所述光点B、所述光点C和所述光点D连接形成的长方形区域内。
2.如权利要求1所述的振镜测试装置,其特征在于,所述振镜包括双轴振镜,所述双轴振镜基于所述振镜驱动板振动后反射所述激光光线到所述屏幕。
3.如权利要求1所述的振镜测试装置,其特征在于,所述振镜包括单轴振镜,所述单轴振镜基于所述振镜驱动板振动后反射所述激光光线到所述屏幕。
4.如权利要求1所述的振镜测试装置,其特征在于,所述振镜的振镜表面与所述屏幕的屏幕表面相互平行,所述振镜表面与所述屏幕表面存在大于零的空间距离。
5.一种振镜测试方法,其特征在于,所述振镜测试方法应用于所述权利要求1-4任一项所述的振镜测试装置,所述振镜测试方法包括:
检测所述振镜是否为双轴振镜;
若所述振镜是双轴振镜,则基于预设的多个光点位置和预设的振镜振动方向确定所述振镜对应的光点偏离中心距离;
获取所述屏幕和所述振镜的直线距离,并基于预设的摆动角度计算公式、所述直线距离和所述光点偏离中心距离计算所述振镜的摆动角度。
6.如权利要求5所述的振镜测试方法,其特征在于,所述检测所述振镜是否为双轴振镜的步骤之后,包括:
若所述振镜是单轴振镜,则确定预设的多个光点位置和所述屏幕的中心之间的中心距离;
获取所述屏幕和所述振镜的直线距离,并根据预设的摆动角度计算公式、所述中心距离和所述直线距离计算所述振镜的摆动角度。
7.如权利要求5所述的振镜测试方法,其特征在于,所述基于预设的摆动角度计算公式、所述直线距离和所述光点偏离中心距离计算所述振镜的摆动角度的步骤之后,包括:
获取所述振镜基于所述摆动角度进行振动且反射激光光线至屏幕上的反射光点位置,检测所述反射光点位置是否和各所述光点位置匹配;
若所述反射光点位置和各所述光点位置的目标光点位置匹配,则确定所述振镜的振动方向和所述摆动角度正常。
8.一种振镜测试设备,其特征在于,所述振镜测试设备包括:存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的振镜测试程序,所述振镜测试程序被所述处理器执行时实现如权利要求5至7中任一项所述的振镜测试方法的步骤。
9.一种计算机可读存储介质,其特征在于,所述计算机可读存储介质上存储有振镜测试程序,所述振镜测试程序被处理器执行时实现如权利要求5至7中任一项所述的振镜测试方法的步骤。
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