[发明专利]光模块高低温环境试验装置及系统

说明书

本申请公开了一种高低温环境试验装置，包括一保温隔热的密闭箱体和用于测试待测光模块的测试板，密闭箱体内具有密闭空间，密闭箱体设有可开启该密闭空间的盖板和连通密闭空间的进气口和排气口；测试板上设有至少两个测试接口，测试接口用于电连接待测光模块；密闭空间内设有风道，待测光模块置于密闭空间内的风道中，风道将从进气口流入的气流分配到各待测光模块。改进了测试用密闭箱体内部结构和高低温产生装置的结构，提高了试验装置的升降温速度和温度均匀性，有效提高了测试效率和准确性。

技术领域

本申请涉及光模块测试技术领域，尤其涉及一种光模块高低温环境试验装置及系统。

背景技术

光模块生产中，需要在低温、常温和高温等多个温度条件下测试光模块性能，保证出厂光模块的可靠性。目前用于产生温度环境的方式主要有热流仪、半导体致冷器(TEC)环境试验箱以及温箱。热流仪控温速度快，但是能耗高；半导体致冷器环境试验箱控温效率低、速度慢。在光模块测试中，从一个温度变化到另一个温度所需要的时间，以及同时测试光模块的数量，决定了整体的测试效率。热流仪和半导体致冷器环境试验箱之类的设备一次给一两个光模块提供所需温度的测试环境，速率快但是整体效率低。温箱一次可以给多个光模块控温，同时测试较多光模块，但是升降温速度慢，温度准确性差，而且不同光模块之间的温差较大。

发明内容

本申请的目的在于提供一种光模块高低温环境试验装置及系统，可同时测试多个光模块，且升降温速度快，测试效率高，温度均匀性好，测试准确性高。

为了实现上述目的之一，本申请提供了一种光模块高低温环境试验装置，其特征在于：包括一保温隔热的密闭箱体和用于测试待测光模块的测试板，所述密闭箱体内具有密闭空间，所述密闭箱体设有可开启所述密闭空间的盖板和连通所述密闭空间的进气口和排气口；所述测试板上设有至少两个测试接口，每个所述测试接口电连接一个所述待测光模块；所述密闭空间内设有风道，所述待测光模块置于所述密闭空间内的所述风道中，所述风道将从所述进气口流入的气流分配到各待测光模块。

作为实施方式的进一步改进，所述密闭空间内设有隔热墙，所述隔热墙将所述密闭空间分成多个所述风道，所述风道用于调整各待测光模块的温度趋于均匀。

作为实施方式的进一步改进，所述隔热墙包括多个并排排列的隔热板，相邻隔热板之间形成所述风道。

作为实施方式的进一步改进，正对所述进气口处的所述风道具有相对较窄的宽度，偏离所述进气口的所述风道具有相对较宽的宽度。

作为实施方式的进一步改进，多个所述风道的宽度由正对所述进气口处的所述风道向两侧逐渐变宽。

作为实施方式的进一步改进，所述密闭空间内还设有气体分流装置，所述气体分流装置的一端密封连接所述进气口，另一端分别密封连接各隔热板；所述气体分流装置用于将所述进气口通入的气体分流到各所述隔热板之间的风道中。

作为实施方式的进一步改进，所述隔热墙包括一隔热环，所述隔热环将所述密闭空间分成容置部和排气部，所述隔热环内为所述容置部，所述隔热环与所述密闭箱体之间的间隙为所述排气部；

所述容置部的顶部中心位置设有进气孔，所述隔热环上设有多个排气孔，多个所述排气孔环绕所述隔热环分布；

所述隔热环上的所述多个排气孔与所述进气孔之间形成所述风道。

作为实施方式的进一步改进，所述进气口设于所述密闭箱体上端，所述隔热环的上端环绕所述进气口、与所述密闭箱体的内壁密封连接；所述进气口作为所述容置部的所述进气孔，所述进气口通入的气流直接进入所述隔热环内的所述容置部内。

作为实施方式的进一步改进，所述隔热环上端口设有隔热板，所述隔热板上设有进气孔，所述进气孔正对所述隔热环的中心轴；所述进气口通入的气流经所述进气孔进入所述隔热环内的所述容置部内。