[发明专利]一种干涉成像光谱仪探测器块效应校正方法有效

专利信息
申请号: 202011109442.1 申请日: 2020-10-16
公开(公告)号: CN112484855B 公开(公告)日: 2021-10-15
发明(设计)人: 陈铁桥;李思远;李海巍;王爽;刘学斌;张耿;冯向朋;陈小来;刘强;刘佳;刘杰;王一豪 申请(专利权)人: 中国科学院西安光学精密机械研究所
主分类号: G01J3/28 分类号: G01J3/28;G01J3/45;G01J3/02
代理公司: 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 代理人: 赵逸宸
地址: 710119 陕西省西*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 一种 干涉 成像 光谱仪 探测器 效应 校正 方法
【权利要求书】:

1.一种干涉成像光谱仪探测器块效应校正方法,其特征在于,包括以下步骤:

S1,通过干涉成像光谱仪分别在积分球不同亮度等级下连续采集光源数据;

S2,按照时间顺序,对经步骤S1采集的光源数据按预设时间间隔进行分割,得到多段光源数据,在每段光源数据中选取连续的50-100%帧图像,分别对每段光源数据中选取的连续50-100%帧图像求取平均值图像,并分别对各平均值图像进行相对定标;

S3,对经步骤S2相对定标的各平均值图像按照干涉维取平均,得到多个空间维块效应曲线;

S4,对每个所述空间维块效应曲线进行多项式拟合,得到多个消除块效应光滑曲线;

S5,根据每个空间维块效应曲线对应的DN值和相应的每个消除块效应光滑曲线对应的DN值,通过比值法得到与预设时间间隔相应的各对应时间下的块效应校正系数;

S6,应用干涉成像光谱仪采集数据,对干涉成像光谱仪各对应时间下获取的数据进行相对定标,再通过步骤S5所得相应的块效应校正系数,得到对应时间下的消除块效应干涉图。

2.根据权利要求1所述一种干涉成像光谱仪探测器块效应校正方法,其特征在于,所述步骤S2具体为:

按照时间顺序,以1秒钟时间间隔对经步骤S1采集的光源数据进行分割,得到多段光源数据,在每段光源数据中选取连续100帧图像,分别对每段光源数据中选取的连续100帧图像求取平均值图像,并分别对各平均值图像进行相对定标。

3.根据权利要求1或2所述一种干涉成像光谱仪探测器块效应校正方法,其特征在于,所述步骤S3具体为:

通过下式对经步骤S2相对定标的各平均值图像按照干涉维取平均,得到多个空间维块效应曲线LineB(t):

LineB(t)=mean(Ic(t),Linestart,Lineend,dim)

其中,Ic(t)为经步骤S2相对定标的平均值图像,Linestart和Lineend分别表示起始位置和终止位置,mean表示求取平均值,dim表示图像行列纬度,t表示数据采集时间。

4.根据权利要求3所述一种干涉成像光谱仪探测器块效应校正方法,其特征在于,所述步骤S4具体为:

通过二次多项式拟合对每个空间维块效应曲线LineB(t)进行平滑拟合,其中,选取拟合位置周围5%范围内的点进行拟合,并使超出六倍绝对离差的极端值拟合权重为0,得到多个消除块效应光滑曲线LineBS(t)。

5.根据权利要求4所述一种干涉成像光谱仪探测器块效应校正方法,其特征在于,所述步骤S5具体为:

通过下式得到块效应校正系数C(t):

其中,reapmat(*,N)表示对图像进行扩展,N表示沿干涉维扩展次数。

6.根据权利要求5所述一种干涉成像光谱仪探测器块效应校正方法,其特征在于,所述步骤S6具体为:

S6.1,对干涉成像光谱仪各对应时间下获取的数据进行去暗电流、坏像元校正和探测器响应校正,得到各对应时间下相对定标后的数据Id(t);

S6.2,通过下式得到消除块效应干涉图Idc(t):

7.根据权利要求1所述一种干涉成像光谱仪探测器块效应校正方法,其特征在于,步骤S2中,所述相对定标包括去暗电流、坏像元校正和探测器响应校正。

8.根据权利要求1所述一种干涉成像光谱仪探测器块效应校正方法,其特征在于,所述步骤S1具体为:在温度15-30℃,相对湿度20-70%,外部无光源的条件下,通过干涉成像光谱仪分别在积分球不同亮度等级下连续采集光源数据。

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