[发明专利]激光设备的焦点偏移量检测方法、装置及设备、存储介质

权利要求书

1.一种激光设备的焦点偏移量检测方法，其特征在于，该方法应用于电子设备，该方法包括：

控制所述激光设备沿着待测的目标板材的第一方向进行移动并在移动过程中朝所述目标板材发射激光；所述目标板材具有多条割缝且沿着所述第一方向依次排列，不同割缝是由所述激光设备在同一高度下采用不同焦点位置参数加工形成；所述激光设备的移动经过所述目标板材上的割缝；

从所述激光设备上安装的光电传感器中，获取在所述激光设备移动过程中采集的感应数据，所述感应数据是所述光电传感器采集所述激光设备发射的激光在所述目标板材上形成的反光量而生成的，反光量越大则感应数据的值越大；

依据所述感应数据确定出所述目标板材上割缝的宽度；

依据所述割缝的宽度计算出用于确定所述焦点偏移量的宽度偏移量，并依据所述宽度偏移量确定所述激光设备的焦点偏移量。

2.如权利要求1所述的激光设备的焦点偏移量检测方法，其特征在于，依据所述感应数据确定出所述目标板材上割缝的宽度，包括：

对所述感应数据进行线性拟合，得到反光量曲线；

从所述反光量曲线中确定出割缝线段，每一条割缝线段上的所有点的数值均小于设定阈值，所述数值用于表征反光量；

依据各个割缝线段的宽度分别确定对应割缝的宽度。

3.如权利要求1所述的激光设备的焦点偏移量检测方法，其特征在于，

沿着第一方向依次排列的割缝对应的焦点位置参数等差递减，且首个割缝对应的焦点位置参数为正数、所述激光设备采用该焦点位置参数加工时为正焦距，最后一个割缝对应的焦点位置参数为负数、所述激光设备采用该焦点位置参数加工时为负焦距；

或者，

沿着第一方向依次排列的割缝对应的焦点位置参数等差递增，且首个割缝对应的焦点位置参数为负数、所述激光设备采用该焦点位置参数加工时为负焦距，最后一个割缝对应的焦点位置参数为正数、所述激光设备采用该焦点位置参数加工时为正焦距。

4.如权利要求3所述的激光设备的焦点偏移量检测方法，其特征在于，依据所述割缝的宽度计算出用于确定所述焦点偏移量的宽度偏移量，包括：

确定各个割缝对应的焦点位置参数中的所有焦点位置参数对，每一焦点位置参数对包含绝对值相差最小的两个焦点位置参数；

针对每一焦点位置参数对，计算较大焦点位置参数对应的割缝的宽度与较小焦点位置参数对应的割缝宽度的差值；

依据各个差值计算出所述宽度偏移量。

5.如权利要求4所述的激光设备的焦点偏移量检测方法，其特征在于，依据各个差值计算出所述宽度偏移量，包括：

计算各个差值的总和，以得到宽度偏移总和；

将所述宽度偏移总和与所述焦点位置参数对的对数之比，确定为所述宽度偏移量。

6.如权利要求3-5中任一项所述的激光设备的焦点偏移量检测方法，其特征在于，

沿着第一方向依次排列的割缝对应的焦点位置参数中，首个割缝对应的焦点位置参数与最后一个割缝对应的焦点位置参数的绝对值相同。

7.如权利要求1所述的激光设备的焦点偏移量检测方法，其特征在于，依据所述宽度偏移量确定所述激光设备的焦点偏移量，包括：

依据预设的第一割缝宽度与所述宽度偏移量确定所述激光设备的焦点偏移量，所述第一割缝宽度是所述激光设备在0焦距下能够切割出的宽度最小的割缝的宽度。

8.如权利要求7所述的激光设备的焦点偏移量检测方法，其特征在于，依据所述第一割缝宽度与所述宽度偏移量确定所述激光设备的焦点偏移量，包括：

计算所述第一割缝宽度与所述宽度偏移量之和，以得到第二割缝宽度；

在已记录的焦点位置参数-割缝宽度的对应关系中确定出所述第一割缝宽度对应的第一焦点位置参数、以及所述第二割缝宽度对应的第二焦点位置参数，所述焦点位置参数-割缝宽度的对应关系中包含了多个焦点位置参数对应的割缝宽度，第一焦点位置参数的绝对值最小，且绝对值越大的焦点位置参数对应的割缝宽度越大；

将所述第二焦点位置参数与第一焦点位置参数之差确定为激光设备的焦点偏移量。