[发明专利]一种磁共振降噪耳机寿命测试方法及测试装置

说明书

本发明涉及一种磁共振降噪耳机寿命测试方法，包括如下步骤：S1，提供一待测试耳机，所述耳机至少包括上支撑杆和两个下支撑件，所述上支撑杆被配置成用于使用者的头佩戴的弯曲形状，两个所述下支撑件分别对应连接于所述上支撑杆的两端；S2，对所述待测试耳机进行温度预处理；S3，对所述待测试耳机进行拉伸试验；S4，对所述待测试耳机进行扭转试验；S5，对所述待测试耳机进行冲击试验；S6，以S2‑S5为一次阶段试验，重复若干次阶段试验，当所述待测试耳机出现裂纹或断裂时停止试验，该方法可最大化模拟耳机现场使用场景，可使耳机的寿命测试最大程度接近实际寿命，本发明还提供了一种测试装置。

技术领域

本发明涉及磁共振降噪耳机寿命测试技术领域，尤其涉及一种磁共振降噪耳机寿命测试方法及耳机测试装置。

背景技术

在核磁共振检查中，检查时会产生较大的噪音，该巨大的噪音是检查设备中梯度磁场线圈中的电流高速开关造成的。核磁共振时，为了产生梯度磁场(对成像对象内部的质子进行定位)，线圈中需要通过电流，由于线圈本身处于磁场中，所以一旦通电后线圈就会受力(洛伦兹力，原理和电动机一模一样)，而MRI的工作要求这些线圈中的电流以极高的速度(临床用的sequence通常几十毫秒到上百毫秒一个周期，意味着一秒钟要开关几十次)开启和关闭，因此会造成线圈的高频振动，该高频振动便使患者感受到巨大的噪音。而噪音过大，则容易使患者脑部出现异常的激活区，影响检查者及临床医生对治疗或科研行为的判断，因此，为提高检查精确性，应尽量降低核磁共振检查过程中产生的噪音，所以出现了专门用于核磁共振的磁共振降噪耳机。

磁共振降噪耳机寿命测试是耳机的生产过程中必要的测试流程，其测试数据一般直接反应了影响耳机使用寿命长短的诸多因素，能有效帮助使用者合理使用耳机。

现有磁共振降噪耳机寿命测试方法大多采用单一测试，仅拉伸，或者扭转，不能很好的模拟耳机实际使时复杂的使用环境，因此，不能准确测试耳机的实际寿命。

发明内容

有鉴于此，有必要提供一种磁共振降噪耳机寿命测试方法及测试装置，用以解决现有技术中磁共振降噪耳机寿命测试方法单一，模拟所受应力单一，无法真实测试出耳机的实际寿命的问题。

本发明提供一种磁共振降噪耳机寿命测试方法，包括如下步骤：

S1，提供一待测试耳机，所述耳机至少包括上支撑杆和两个下支撑件，所述上支撑杆被配置成用于使用者的头佩戴的弯曲形状，两个所述下支撑件分别对应连接于所述上支撑杆的两端；

S2，对所述待测试耳机进行温度预处理；

S3，对所述待测试耳机进行拉伸试验；

S4，对所述待测试耳机进行扭转试验；

S5，对所述待测试耳机进行冲击试验；

S6，以S2-S5为一次阶段试验，重复若干次阶段试验，当所述待测试耳机出现裂纹或断裂时停止试验。

进一步的，步骤S2包括：

S21，以一初始温度T0为温循起点，在升温速率v1下升温至第一温度T1，并保持一定时间t1；

S22，在降温速率v2下降温至第二温度T2，并保持一定时间t2，其中，T0T2；

S23，在升温速率v1下升温至第一温度T0；

S24，以S21-S23为一次温度循环，并重复若干次所述温度循环。

3.根据权利要求2所述的磁共振降噪耳机寿命测试方法，其特征在于，T0为25℃，T1为40℃，T2为5℃，V1为1K/min，t1和t2均为8h。

进一步的，步骤S3包括:

S31，分别夹持两个所述下支撑件，使所述待测试耳机处于拉伸初始位置；