[发明专利]一种非同温条件下的发射率测量方法

权利要求书

1.一种非同温条件下的发射率测量方法，其特征在于，包括如下步骤：

S1，使用红外光谱仪，测量非同温地表的离地辐射；

S2，使用红外光谱仪，测量天空下行辐射；

S3，以第i光谱(第一次时，i＝0)位置开始，以一定的光谱宽度开辟数据滑动窗口；

S4，将数据窗口内的数据代入光谱平滑迭代算法中，计算出该窗口内的温度和发射率；

S5，将S3中的i增加1，即i＝i+1，重复S3和S4，直到遍历完整个光谱范围，得到多段发射率光谱曲线；

S6，将S5得到的多段发射率光谱曲线按照相同波谱位置求平均的方法，合成为一个发射率光谱曲线。

2.根据权利要求1所述的非同温条件下的发射率测量方法，其特征在于：所述红外光谱仪设定的对地表和天空测量的光谱分辨率设定为1cm^-1。

3.根据权利要求2所述的非同温条件下的发射率测量方法，其特征在于：所述红外光谱仪对地表测量的步骤为：将红外光谱仪的镜头垂直对准待测量的目标地表并采集数据，使用黑体做辐射定标。

4.根据权利要求2所述的非同温条件下的发射率测量方法，其特征在于：所述红外光谱仪对天空测量的步骤为：将红外光谱仪的镜头以53度天顶角倾斜测量天空并采集数据，使用黑体做辐射定标。

5.根据权利要求1所述的非同温条件下的发射率测量方法，其特征在于：所述滑动窗口的宽度设定为50cm^-1。

6.根据权利要求1所述的非同温条件下的发射率测量方法，其特征在于：所述光谱平滑迭代算法的具体操作为：假设各个波段的发射率为1，按照普朗克逆公式计算出各个波段的温度；选择其中最高温度T₀，以温度范围[T₀-t,T₀+t]，将其内部等分100份，得到一个数组；每个温度值代入方程，都可以计算出一组发射率曲线，计算发射率曲线的平滑指数，取平滑指数最小的温度作为真值，该组发射率作为真实的发射率。

7.根据权利要求6所述的非同温条件下的发射率测量方法，其特征在于：所述t的值为5。