[发明专利]一种电容变控的新材料用表面平整度检测仪

权利要求书

1.一种电容变控的新材料用表面平整度检测仪，包括检测腔（10），驱动腔（11）；检测腔（10）设置为矩形结构且左右两侧设置为开口状，检测腔（10）的底部左侧向下固定安装有矩形结构的驱动腔（11），其特征在于，所述检测腔（10）的左侧设置有一组水平的输送板（13），位于所述驱动腔（11）顶中部的检测腔（10）的内底部设置有一组高度与检测腔（10）内底部一致的磁斥装置（21），磁斥装置（21）正上方的检测腔（10）的内顶部设置有一组下部开口的活动腔（20），活动腔（20）的内部滑动连接有一组与磁斥装置（21）相互平行的磁铁（24），磁铁（24）的顶部固定安装有一组向上活动穿过检测腔（10）顶部的刻度柱（22），所述磁斥装置（21）下方的驱动腔（11）的内中上部左右侧壁分别固定安装有正极板（28）和负极板（29），负极板（29）与磁斥装置（21）电性连接，所述驱动腔（11）的内部后侧设置有一组竖直的丝杠（30），驱动腔（11）置于正极板（28）和负极板（29）的相对区域的后侧，驱动腔（11）上滑动连接有一组与驱动腔（11）相同材质的螺母（35），螺母（35）的前侧面固定安装电介质板（36）。

2.根据权利要求1所述的一种电容变控的新材料用表面平整度检测仪，其特征在于，输送板（13）的外侧面等间隔固定安装有一圈高度与检测腔（10）的左侧开口处底部一致的拨板（14），输送板（13）的左右两侧通过转动轴转动连接，右侧转动轴延伸至检测腔（10）的内底部的空腔中，左侧转动轴向下通过支撑架进行支撑，支撑架的底部固定安装有一组右端固定在驱动腔（11）左侧壁上部的支撑板（12）。

3.根据权利要求2所述的一种电容变控的新材料用表面平整度检测仪，其特征在于，位于输送板（13）中部下方设置有一组与拨板（14）相互配合拨动的双轴凸轮（16），双轴凸轮（16）的左侧面中部向下通过底部固定在支撑板（12）顶部的支撑套杆进行支撑，双轴凸轮（16）的右侧面中部通过传动带（17）转动连接有固定在支撑板（12）上的伺服电机（18）。

4.根据权利要求3所述的一种电容变控的新材料用表面平整度检测仪，其特征在于，所述磁铁（24）的左右两侧固定安装有两组滑块（27），滑块（27）滑动连接在开设在磁铁（24）左右侧壁中部的竖直的滑腔（25）中，位于滑腔（25）中的滑块（27）的上下侧通过弹簧（26）弹性连接在滑腔（25）的上下端壁上。

5.根据权利要求4所述的一种电容变控的新材料用表面平整度检测仪，其特征在于，丝杠（30）由铝制材质制成且其顶端转动连接在驱动腔（11）的内顶部。

6.根据权利要求5所述的一种电容变控的新材料用表面平整度检测仪，其特征在于，所述丝杠（30）的底部固定安装有横向的从动斜齿（34）,从动斜齿（34）的右侧啮合有竖直的主动斜齿（33）,主动斜齿（33）的右端中部向外通过转动杆（32）固定连接有一组置于驱动腔（11）外部的转动盘（31）。

7.根据权利要求1或2所述的一种电容变控的新材料用表面平整度检测仪，其特征在于，所述刻度柱（22）的左侧的检测腔（10）的顶部固定安装有一组用于时刻拍摄刻度柱（22）运动轨迹的摄像机（23）。