[发明专利]千分尺测量结构及千分尺

说明书

本发明提供了一种千分尺测量结构及千分尺，涉及测量工具技术领域，本发明提供的千分尺测量结构包括测杆组件、固定套筒和转动件；测杆组件的端部伸入固定套筒并与固定套筒滑动连接，滑动方向平行于固定套筒的轴向；转动件具有与测杆组件滑动配合的螺旋槽，转动件转动配置于固定套筒内并通过螺旋槽带动测杆组件相对于固定套筒滑动。本发明提供的千分尺测量结构将转动件的旋转运动转换为测杆组件的直线运动，测杆组件只进行前后直线运动，测量时不会因为旋转而损伤被测零件；同时转动件具有放大行程的作用，旋转一圈测杆组件所移动的行程为传统千分尺的数倍，可以实现快速测量。

技术领域

本发明涉及测量工具技术领域，尤其是涉及一种千分尺测量结构及千分尺。

背景技术

目前千分尺都采用的是螺纹驱动，螺母旋转一圈，测杆移动一个螺距，测杆沿轴线方向移动距离就可以用螺母圆周上的读数表示出来。

通常测杆与固定刻度之间的螺纹的螺距为0.5mm，即旋钮每旋转一周，前进或后退0.5mm。螺母套筒上的刻度为50等份，每转动一小格，前进或后退0.01mm，即螺旋测微器的精确度为0.01mm。

现有的千分尺具有以下不足：

1)如要提高千分尺的精度必须减小螺距，减小螺距则测量速度会显著降低，现有的千分尺传动机构很难实现快速高精度测量；

2)由于在测量过程中，测杆始终处于转动状态，测杆会损伤零件表面。

发明内容

本发明的目的在于提供一种千分尺测量结构及千分尺，其不会对被测零件造成损伤，且可实现快速测量。

为实现上述目的，本发明提供以下技术方案：

第一方面，本发明提供一种千分尺测量结构，包括测杆组件、固定套筒和转动件；

所述测杆组件的端部伸入所述固定套筒并与所述固定套筒滑动连接，滑动方向平行于所述固定套筒的轴向；

所述转动件具有与所述测杆组件滑动配合的螺旋槽，所述转动件转动配置于所述固定套筒内并通过所述螺旋槽带动所述测杆组件相对于所述固定套筒滑动。

进一步地，所述转动件为螺旋杆，所述螺旋杆螺旋形成所述螺旋槽以及用于插装所述测杆组件的插装孔，所述螺旋槽与所述插装孔连通，所述插装孔的轴线与所述螺旋杆的轴线平行。

进一步地，所述测杆组件包括测杆和连接件；

所述测杆的端部插装于所述插装孔；

所述固定套筒开设有限位槽口，所述限位槽口的延伸方向平行于所述螺旋杆的轴线，所述连接件贯穿所述限位槽口以及所述螺旋槽与所述测杆连接。

进一步地，所述固定套筒包括内套筒和限位组件，所述限位组件安装于所述内套筒的两端，所述限位组件用于限定所述转动件的轴向位置。

进一步地，所述千分尺测量结构还包括外驱动机构，所述外驱动机构套设于所述固定套筒外部，并与所述转动件传动连接，以带动所述转动件相对于所述固定套筒转动。

进一步地，所述外驱动机构包括活动套筒和联动轴，所述联动轴位于所述活动套筒与所述转动件之间，所述联动轴用于将所述活动套筒的动力传递至所述转动件。

进一步地，所述外驱动机构还包括用于过载保护的测力部件，所述测力部件的两端分别与所述活动套筒的内壁以及所述联动轴连接，以将所述活动套筒的动力传递至所述联动轴。

第二方面，本发明还提供一种千分尺，包括主体以及上述方案所述的千分尺测量结构，所述固定套筒与所述主体固定连接，所述测杆组件贯穿所述主体并与所述主体滑动连接，所述测杆组件远离所述固定套筒的端部与所述主体之间形成测量间隙。